[发明专利]X荧光光谱法快速分析铝矾土中化学成分的方法在审
| 申请号： | 201611068806.X | 申请日： | 2016-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN106442596A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 唐侠;杨丽;张鹏;夏冬;张庸 | 申请（专利权）人： | 沈阳黎明航空发动机（集团）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙)21234 | 代理人： | 李晓光 |
| 地址： | 110043 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X荧光光谱法快速分析铝矾土中化学成分的方法，步骤为：将铝矾土制备成适宜荧光光谱分析的片状试样；对铝矾土片状试样进行激发试验，确定出适应铝矾土分析的X荧光光谱仪的测量参数；按照上述设定的测量参数对标准物质片状试样进行多次激发试验，根据铝矾土中每个元素含量与特征谱线强度，确定元素的测量模式和扣背景位置；再根据铝矾土的测量条件确定元素含量和特征谱线强度之间的线性关系，绘制出铝矾土的分析灵敏度曲线；利用上述灵敏度曲线测定待测铝矾土试样的含量。本发明仅用数分钟即可对铝矾土中的氧化物进行准确测量，从而控制材料的质量，提高了生产中的材料检验效率，缩短了分析周期，更加适合现代化企业的生产需求。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 光谱 快速 分析 铝矾土 化学成分 方法 | ||
【主权项】：
一种X荧光光谱法快速分析铝矾土中化学成分的方法，其特征在于包括以下步骤：将铝矾土制备成适宜荧光光谱分析的片状试样；对铝矾土片状试样进行激发试验，确定出适应铝矾土分析的X荧光光谱仪的测量参数；按照上述设定的测量参数对标准物质片状试样进行多次激发试验，根据铝矾土中每个元素含量与特征谱线强度，确定元素的测量模式和扣背景位置；再根据铝矾土的测量条件确定元素含量和特征谱线强度之间的线性关系，绘制出铝矾土的分析灵敏度曲线；利用上述灵敏度曲线测定待测铝矾土试样的含量。
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