[发明专利]圆偏光面板检测方法及圆偏光面板检测装置

摘要

本发明提供一种圆偏光面板检测方法及圆偏光面板检测装置。该圆偏光面板检测方法根据波长分散性的原理，以一预设角度为间隔旋转检偏器(3)内的偏光片(31)，圆偏光面板(1)发出的光线经偏光片(31)与退偏滤片(33)进入光谱仪(5)，每旋转一次偏光片(31)，使用光谱仪(5)测量一次全光谱，然后根据光谱仪(5)测量到的全光谱数据便能够计算得到圆偏光波长、及圆偏光延迟量值，从而能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性，对圆偏光面板品质进行评估，有效监控圆偏光面板模组制程。

主权项

1.一种圆偏光面板检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供待检测的圆偏光面板(1)、及置于圆偏光面板(1)出光侧的圆偏光面板检测装置；所述圆偏光面板检测装置包括检偏器(3)、及置于检偏器(3)后方的光谱仪(5)；所述检偏器(3)包括偏光片(31)、及快轴方向与偏光片(31)的光轴方向呈一固定角度夹角的退偏滤片(33)；步骤S2、开启圆偏光面板(1)使其发光，以一预设角度为间隔旋转检偏器(3)内的偏光片(31)，光线经偏光片(31)与退偏滤片(33)进入光谱仪(5)，每旋转一次偏光片(31)，使用光谱仪(5)测量一次全光谱；步骤S3、根据光谱仪(5)测量到的全光谱数据计算相对均方根偏差最小的波长λ0，得到圆偏光波长；步骤S4、计算圆偏光延迟量值、及波长延迟量值；所述步骤S4中计算圆偏光延迟量值使用的计算公式为：当λ≤λ0时；当λ>λ0时；其中：S_λ0(min)、S_λ0(max)分别为波长λ0的光随检偏器(3)内的偏光片(31)的角度变化时测量到光谱辐射强度的最大值、最小值；θ为圆偏光延迟量值；S_λ(min)、S_λ(max)分别为任一波长λ的可见光随检偏器(3)内的偏光片(31)的角度变化时测量到的光谱辐射强度的最大值、最小值；所述步骤S4中计算波长延迟量值使用的计算公式为：其中，Re为波长延迟量值，θ为圆偏光延迟量值，λ为可见光的任一波长。