[实用新型]用于纱线瑕疵检测的双光源检测系统有效
| 申请号： | 201620049783.7 | 申请日： | 2016-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN205352965U | 公开（公告）日： | 2016-06-29 |
| 发明（设计）人： | 付明磊;沈敏烽;刘玉玲 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学义乌科学技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人： | 王利强 |
| 地址： | 322000 浙江省金*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测系统，所述检测系统包括第一光源检测单元和第二光源检测单元，第一光源和第二光源的光线颜色不同，所述第一光源检测单元和第二光源检测单元的检测光轴与待检测纱线的运动方向垂直，同时第一光源检测单元和第二光源检测单元检测光轴正交，所述第一光源检测单元和第二光源检测单元均与用于根据检测电压与标准电压的差值判断不同纱线瑕疵类型的双光源检测模块连接。本实用新型提供一种成本较低、系统简单、且能同时检测纱线粗细瑕疵和扁平瑕疵的双光源检测系统。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 纱线 瑕疵 检测 光源 系统 | ||
【主权项】：
一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测系统，其特征在于：所述检测系统包括第一光源检测单元和第二光源检测单元，第一光源和第二光源的光线颜色不同，所述第一光源检测单元和第二光源检测单元的检测光轴与待检测纱线的运动方向垂直，同时第一光源检测单元和第二光源检测单元检测光轴正交，所述第一光源检测单元和第二光源检测单元均与用于根据检测电压与标准电压的差值判断不同纱线瑕疵类型的双光源检测模块连接。
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