[发明专利]一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构

摘要

本发明提供了一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构，包括调试主控器和调试子控制器；调试主控器通过接收JTAG接口的数据，进行数据校验和指令解析后，将校验无误的数据送往相应的调试子控制器，进一步进行处理和执行，调试子控制器接受调试主控器的控制，并按照相应的数据指令，实现对调试对象的调试操作并返回调试数据；本发明的JTAG调试结构在支持IEEE1149.1标准JTAG时序的基础上，实现了双向32位CRC串行数据校验功能，能够检测数据传输过程中出现的异常，提高了数据传输过程的可靠性。

主权项

1.一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构，其特征在于：包括调试主控器和调试子控制器；调试主控器中设计有子控制器选择与使能单元、输入/输出数据CRC校验模块、调试子控制器接口，调试主控器受IEEE1149.1标准的JTAG接口和TAP控制器控制，通过接收JTAG接口的数据，进行数据校验和指令解析后，将校验无误的数据送往相应的调试子控制器，进一步进行处理和执行，调试子控制器返回的数据由调试主控器进行CRC保护后，按照标准JTAG时序送至外部JTAG端口；调试子控制器接受调试主控器的控制，并按照相应的数据指令，实现对调试对象的调试操作并返回调试数据，调试子控制器中有指令解析模块、地址/数据发生寄存器、调试命令寄存器、读写控制结构，在接收到调试指令和数据后，通过指令解析和转换，将串行指令和数据转换为对被调试对象的读写操作，并将结果储存和返回；一个调试主控器挂载多路调试子控制器，通过设置调试主控器中的子控制器ID寄存器宽度，进行多核扩展和调试集成。