[发明专利]用于测试被测设备的电波暗室有效

专利信息
申请号: 201710650661.2 申请日: 2017-08-02
公开(公告)号: CN108957162B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 马库斯·赫尔布里格;丹尼尔·马克特;科比特·罗威尔 申请(专利权)人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R29/08
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华;李欣
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种用于测试被测设备的电波暗室。所述电波暗室包括:至少一个气体输入部件,所述至少一个气体输入部件用于将气体输入所述电波暗室中;以及至少一个气体输出部件,所述至少一个气体输出部件用于将所述气体从所述电波暗室输出。除此之外,所述气体输入部件和所述气体输出部件产生相对于所述电波暗室的预定义区域的定向气流。
搜索关键词: 用于 测试 设备 电波 暗室
【主权项】:
1.一种用于测试被测设备的电波暗室,包括:至少一个气体输入部件,所述至少一个气体输入部件用于将气体输入所述电波暗室中,以及至少一个气体输出部件,所述至少一个气体输出部件用于将所述气体从所述电波暗室输出,其中,所述气体输入部件和所述气体输出部件产生相对于所述电波暗室的预定义区域的定向气流。
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