[发明专利]样本分析装置、样本检测设备及样本检测方法有效

专利信息
申请号: 201710939351.2 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN109596852B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 丁建文 申请(专利权)人: 爱威科技股份有限公司
主分类号: G01N35/04 分类号: G01N35/04
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 黄晓庆
地址: 410013 湖南省长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供一种样本分析装置,包括基板、检测单元和载物台,载物台上设置有第一检测轨道及第二检测轨道。本发明还提供一种样本检测设备及方法。本发明实施例通过设置并列的第一检测轨道和第二检测轨道,在对一条检测轨道上的送检样本检测完毕之后,对另一条检测轨道上的送检样本进行检测,如果在先送检样本不需要复检,则可以继续对后续送检样本进行检测;如果在先样本需要复检,则可通过位移装置调整载物台和检测单元的相对位置以对在先样本进行复检。即保证了对送检的样本的连续检测,也不需要额外浪费工作量对等待检测结果的样本进行保存和整理,实现了方便快捷的对需要复检的样本进行复检。
搜索关键词: 样本 分析 装置 检测 设备 方法
【主权项】:
1.一种样本分析装置,其特征在于,包括:基板,其上设置有检测位;检测单元,与所述检测位对应,并用于获取位于所述检测位上的送检样本的样本信息;载物台,可移动地安装于所述基板上,所述载物台上设置有第一检测通道及第二检测通道,所述送检样本可收容于所述第一检测通道或所述第二检测通道内;其中,所述载物台相对于所述基板可进行往复移动,以使所述第一检测通道及所述第二检测通道交替位于所述检测位上。
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