[发明专利]安全逻辑的自测试有效
| 申请号： | 201780053277.2 | 申请日： | 2017-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN109642926B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | S·兰加查理;S·贾兰 | 申请（专利权）人： | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;G01R31/3187;G06F11/00 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐东升;赵蓉民 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在所描述的用于安全关键设备中的安全逻辑(100)的自测试逻辑的示例中，安全逻辑(100)包括耦合到安全关键设备中的主模块(300)和比较模块(302)的比较器逻辑，并且自测试逻辑被配置为测试比较器逻辑。自测试逻辑可以实现为单周期并行位反转方法、多周期串行位反转方法或单周期测试模式注入方法。 | ||
| 搜索关键词： | 安全 逻辑 测试 | ||
【主权项】：
1.一种装置，包括：被测电路即CUT，其被配置为生成多个信号对，其中，对于每个信号对，预期所述信号对中的第一信号与所述信号对中的第二信号相同；安全逻辑，其耦合到所述CUT以测试所述CUT，其中所述安全逻辑包括多个比较器，每个比较器耦合到相应的信号对，并且每个比较器被配置为当所述相应的信号对的所述第一信号的第一信号位值和所述第二信号的相应的第二信号位值相同时输出第一位值，并且当所述第一信号位值和所述第二信号位值不同时输出第二位值，所述第二位值指示所述CUT中的故障；以及自测试逻辑，其耦合到所述安全逻辑以测试所述安全逻辑，其中所述自测试逻辑被配置为当所述自测试逻辑被启用时致使所述多个比较器中的至少一个比较器输出所述第二位值。
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