[发明专利]成像器件有效

专利信息
申请号: 201780057053.9 申请日: 2017-10-16
公开(公告)号: CN109716755B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 河津直树;鸟居元展;本桥裕一;铃木敦史;蓟纯一郎 申请(专利权)人: 索尼半导体解决方案公司
主分类号: H04N5/367 分类号: H04N5/367;H04N17/00
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 姚鹏;曹正建
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 第一像素包括:第一传输晶体管、第一复位晶体管、第一放大晶体管和第一选择晶体管。所述第一传输晶体管的第一端子连接至参考信号生成电路。所述第一复位晶体管的第一端子连接至所述参考信号生成电路。所述第一放大晶体管的栅极连接至所述第一复位晶体管的第二端子和所述第一传输晶体管的第二端子。所述第一选择晶体管连接至所述第一放大晶体管。第二像素包括:第一光电转换元件;连接至所述第一光电转换元件的第二传输晶体管;被配置用于接收第一预定电压的第二复位晶体管;连接至所述第二传输晶体管和所述第二复位晶体管的第二放大晶体管;和连接至所述第二放大晶体管的第二选择晶体管。
搜索关键词: 成像 器件
【主权项】:
1.一种成像器件,其包括:第一像素,包括:第一传输晶体管,其中所述第一传输晶体管的第一端子连接至参考信号生成电路;第一复位晶体管,其中所述第一复位晶体管的第一端子连接至所述参考信号生成电路;第一放大晶体管,其中所述第一放大晶体管的栅极连接至所述第一复位晶体管的第二端子和所述第一传输晶体管的第二端子;和第一选择晶体管,所述第一选择晶体管连接至所述第一放大晶体管;以及第二像素,包括:第一光电转换元件;第二传输晶体管,所述第二传输晶体管连接至所述第一光电转换元件;第二复位晶体管,所述第二复位晶体管用于接收第一预定电压;第二放大晶体管,所述第二放大晶体管连接至所述第二传输晶体管和所述第二复位晶体管;和第二选择晶体管,所述第二选择晶体管连接至所述第二放大晶体管。
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  • 提供准确地校正缺陷混合像素的像素信号的像素校正方法及摄像装置。彩色图像传感器(26)具有普通像素(51a、51b)和相位差像素(52a、52b)。像素混合电路(46)将普通像素彼此的混合、普通像素与相位差像素的混合在同色内进行而生成混合图像。边缘检测部使用混合图像的各像素的像素信号,检测与像素信号之差最大的方向垂直的被摄体的边缘(S18~S20)。在横跨边缘进行相位差像素的像素混合的情况下,像素信号校正处理部(32)使用在沿着边缘的方向上且将普通像素彼此混合而得到的同色的像素信号,通过插值对生成的混合像素进行校正(S21)。
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  • A·A·佩蒂尤什克;A·B·霍洛多恩克;I·L·马祖仁克;D·V·帕芬诺韦;D·N·巴宾 - LSI公司
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  • 一种图像处理系统,包括配置用于在第一图像中识别出与至少一个深度伪影关联的一个或多个潜在地有缺陷的像素的,并且用于应用使用第二图像来重建一个或多个潜在地有缺陷的像素的深度信息的超分辨率技术的图像处理器。超分辨率技术的应用产生具有所重建的深度信息的第三图像。第一图像可以包括深度图像,而第三图像可以包括总体上与第一图像对应的但深度伪影已基本上被消除的深度图像。可以应用使用第四图像的附加的超分辨率技术。该附加的超分辨率技术的应用产生具有相对第三图像增加的空间分辨率的第五图像。
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  • 安田隆幸;荻野洋;小川武志 - 佳能株式会社
  • 2012-08-07 - 2014-04-16 - H04N5/367
  • 判断穿过缺陷像素并且配置用于计算所述缺陷像素的信号水平的像素的方向。获取如下的信号水平之间的比:与所述缺陷像素相邻接、并且颜色与所述缺陷像素不同的像素的信号水平;以及与沿着所判断出的方向相对于所述缺陷像素进行配置且颜色与所述缺陷像素相同的像素相邻接、并且颜色与所述缺陷像素不同的像素的信号水平。输出通过将用于计算所述缺陷像素的信号水平的像素的信号水平的平均值乘以所计算出的比而获得的值,作为所述缺陷像素的信号水平。
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