[发明专利]单平面照明显微镜

摘要

本发明涉及一种单平面照明显微镜，该单平面照明显微镜包括用于照射位于介质中的样品载体(2)上的样品(1)的照明光学系统，样品载体(2)平行于平坦参考表面(3)延伸。经由照明光路由光片照射样品。单平面照明显微镜还包括具有检测光路的检测光学系统。照明光学系统和检测光学系统的光轴每一个都与参考表面(3)的法线一起限定不等于零度的角度。单平面照明显微镜还包括阻挡层系统，该阻挡层系统包括由具有给定厚度的给定材料形成的至少一层并且将介质与照明和检测光学系统分离，且阻挡层系统的基部区域与可以用于照明和检测活动的区域接触，所述基部区域平行于参考表面(3)延伸。在照明光路和/或检测光路中的至少一个校正元件允许减少当待检测的光或用于照射样品(1)的光以一定角度穿过阻挡层系统的界面时产生的像差。这种类型的单平面照明显微镜包括一装置，所述装置与光片的产生无关，并用于在光片平面的大致点状区域中或在至少暂时包括所述光片平面的给定空间中通过至少一个操纵光路将光强度施加到样品(1)。

主权项

1.一种光片显微镜，包括：用于经由照明光路利用光片照射样品(1)的照明光学单元，所述样品位于介质中的样品载体(2)上，其中所述样品载体(2)平行于平坦参考表面(3)，所述光片具有光片平面，所述光片平面与所述参考表面(3)的法线形成不为零的照明角度；检测光学单元，所述检测光学单元具有带有光轴(5)的检测光路，所述光轴在所述样品载体(2)的区域中与所述参考表面(3)的法线形成不为零的检测角度；分离层系统，所述分离层系统具有至少一个层，所述至少一个层由具有指定厚度的指定材料制成并将所述介质与所述照明光学单元和所述检测光学单元分离，其中所述分离层系统至少在能够进行检测和照明的区域中通过与参考表面(3)平行的基面与所述介质接触；至少一个校正元件，所述至少一个校正元件位于所述照明光路和/或所述检测光路中以用于减少由于待检测的光和/或用于照射所述样品(1)的光倾斜通过所述分离层系统的界面而发生的像差，其特征在于，所述光片显微镜包括下述装置：所述装置独立于光片生成，用于在所述光片平面中的大致点状区域中或在至少暂时包括所述光片平面的指定的空间中，通过至少一个操纵光路将光强度施加在所述样品(1)上。