[发明专利]太赫兹时域光谱仪有效

专利信息
申请号: 201810136377.8 申请日: 2018-02-09
公开(公告)号: CN109406441B 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 何坚兵;潘奕;丁庆 申请(专利权)人: 雄安华讯方舟科技有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院
主分类号: G01N21/3581 分类号: G01N21/3581
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 易皎鹤
地址: 071700 河北省保定市*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及一种太赫兹时域光谱仪,包括:激光器;第一分光镜,将激光分为泵浦光和探测光;时间延迟设备,用于调节探测光相对于泵浦光的时间延迟;第二分光镜,用于将探测光分为第一探测光和第二探测光;第一太赫兹天线,在泵浦光的作用下发射第一太赫兹波,第一太赫兹天线还用于探测第一太赫兹波经由待测样品反射的太赫兹波和第一探测光;第二太赫兹天线用于探测第一太赫兹波经由待测样品透射的太赫兹波和第二探测光;第一处理模块,用于分析所述第一太赫兹天线测得的光谱信号;第二处理模块,用于分析所述第二太赫兹天线测得的光谱信号。上述太赫兹时域光谱仪可以仅用两个太赫兹天线测得待测样品的反射光谱和透射光谱,使用方便。
搜索关键词: 赫兹 时域 光谱仪
【主权项】:
1.一种太赫兹时域光谱仪,其特征在于,包括:激光器,用于产生激光;第一分光镜,用于将所述激光分为泵浦光和探测光;时间延迟设备,设置于所述探测光的光路上,所述时间延迟设备用于调节所述探测光相对于所述泵浦光的时间延迟;第二分光镜,用于将所述探测光分为第一探测光和第二探测光;第一太赫兹天线,用于在所述泵浦光的作用下发射第一太赫兹波,并探测该第一太赫兹波被待测样品所反射的太赫兹波和所述第一探测光;第二太赫兹天线,用于探测所述第一太赫兹波透射所述待测样品后的太赫兹波和所述第二探测光;第一处理模块,用于根据所述第一太赫兹天线测得的光谱信号对所述待测样品进行反射信号分析;以及第二处理模块,用于根据所述第二太赫兹天线测得的光谱信号对所述待测样品进行透射信号分析。
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