[发明专利]利用周期性全反射实现准相位匹配的方法在审

专利信息
申请号: 201810286480.0 申请日: 2018-03-30
公开(公告)号: CN108319092A 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 丁婷婷;郑远林;陈险峰 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G02F1/35 分类号: G02F1/35
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王毓理;王锡麟
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种利用周期性全反射实现准相位匹配的方法,将光波斜射入前后端面斜切的晶体,使得基频光与倍频光共线传播时出现相位失配后,光波在晶体与空气表面发生全反射并产生能够补偿共线相位失配的相移差,从而实现准相位匹配及倍频功率的增长。本发明不需要对晶体进行复杂加工而且转换效率高。
搜索关键词: 准相位匹配 全反射 相位失配 光波 共线 斜切 空气表面 前后端面 转换效率 倍频光 基频光 相移差 倍频 斜射 传播 加工
【主权项】:
1.一种利用周期性全反射实现准相位匹配的方法,其特征在于,将光波斜射入前后端面斜切的晶体,使得基频光与倍频光共线传播时出现相位失配后,光波在晶体与空气表面发生全反射并产生能够补偿共线相位失配的相移差,从而实现实现准相位匹配及倍频功率的增长。
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