[发明专利]护层框架、护层和剥离护层的方法在审
申请号: | 201811175050.8 | 申请日: | 2018-10-10 |
公开(公告)号: | CN109656096A | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 簗濑优 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F1/64 | 分类号: | G03F1/64 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李跃龙 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种护层框架、护层和剥离护层的方法。本发明的目的在于提供一种框架形状的护层框架,其具有上端面和下端面,所述上端面上配置有护层膜,所述下端面面对光掩模,其特征在于,从下端面的外侧面朝向内侧面设置有凹口部;包括护层框架作为元件的护层;以及用于从安装有护层的光掩模上剥离护层的方法,其特征在于,将剥离夹具从护层框架的侧面插入凹口部,并在这种状态下使剥离夹具在护层框架的上端面方向移动,以从光掩模上剥离护层。 | ||
搜索关键词: | 护层 光掩模 剥离 剥离夹具 上端面 下端面 侧面设置 插入凹口 方向移动 框架形状 凹口部 外侧面 上端 下端 侧面 配置 | ||
【主权项】:
1.一种框架形状的护层框架,具有用于在其上配置护层膜的上端面和面对光掩模的下端面,和从下端面的外侧面朝向内侧面设置的凹口部。
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- 藤野诚治;张嵩;王涛;高静;杜小波 - 京东方科技集团股份有限公司
- 2015-03-26 - 2015-07-01 - G03F1/64
- 本发明公开了一种掩膜板、掩膜曝光设备及掩膜曝光方法,属于显示技术领域。掩膜板包括托盘;所述托盘上具有至少一个掩膜定位槽,每一个所述掩膜定位槽内设置有掩膜。本发明提供的掩膜板、掩膜曝光设备及掩膜曝光方法能够有效实现闭环开口的掩膜,提高基板上成膜的质量。
- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备