[发明专利]激光介质的分选方法及照射位置检测装置在审

专利信息
申请号: 201811609747.1 申请日: 2018-12-27
公开(公告)号: CN110311291A 公开(公告)日: 2019-10-08
发明(设计)人: 江野泰造;后藤义明 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: H01S3/00 分类号: H01S3/00
代理公司: 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 代理人: 魏彦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种事先对能使脉冲光、CW激光线性偏振化的激光介质进行分选的激光介质的分选方法及照射位置检测装置。该激光介质的分选方法,在激光振荡装置中使用,具有以下工序:用相位差照相机拍摄长方体形状的该激光介质的端面,获得示出相位差的分布的相位差分布图像(18)和示出相位差的方向的相位差方向箭头(19);以及判断在存在相位差的部位是否存在与所述激光介质的一边垂直的所述相位差方向箭头,分选在存在相位差的部位存在与所述一边垂直的所述相位差方向箭头的所述激光介质来作为能够在所述激光振荡装置中使用的激光介质。
搜索关键词: 激光介质 相位差 分选 方向箭头 激光振荡装置 检测装置 照射位置 垂直的 相位差分布图像 长方体形状 激光线性 脉冲光 偏振化 照相机 拍摄
【主权项】:
1.一种激光介质的分选方法,在激光振荡装置中使用,其特征在于,具有:用相位差照相机拍摄长方体形状的该激光介质的端面,获得示出相位差的分布的相位差分布图像和示出相位差的方向的相位差方向箭头的工序;以及判断在存在相位差的部位是否存在与所述激光介质的一边垂直的所述相位差方向箭头,分选出在存在相位差的部位存在与所述一边垂直的所述相位差方向箭头的所述激光介质,来作为能够在所述激光振荡装置中使用的激光介质的工序。
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