[实用新型]微波反射率测量组件及微波反射率测量系统有效
| 申请号： | 201822026105.0 | 申请日： | 2018-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN209342634U | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 余争鸣;潘金杰;甘丹;毛晶晶 | 申请（专利权）人： | 航天科工武汉磁电有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 孙海杰 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种微波反射率测量组件及微波反射率测量系统，属于微波测量领域。该微波反射率测量组件包括弓形架及设于弓形架上的两个测试天线，弓形架内还设有可升降的样品支架，样品支架的两侧分别设有相对布置的激光发射器和用于接收激光发射器发射激光的光传感器。本实用新型提供的微波反射率测量组件无需校准就能够快速高效的对不同材料进行多次测量。本实用新型还提供了包含上述微波反射率测量组件的微波反射率测量系统。 | ||
| 搜索关键词： | 微波反射率 测量组件 测量系统 弓形架 本实用新型 激光发射器 样品支架 测试天线 多次测量 光传感器 微波测量 相对布置 可升降 校准 激光 发射 | ||
【主权项】：
1.一种微波反射率测量组件，其包括弓形架及设于所述弓形架上的两个测试天线，其特征在于，所述弓形架内还设有可升降的样品支架，所述样品支架的两侧分别设有相对布置的激光发射器和用于接收所述激光发射器发射激光的光传感器。
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