[实用新型]一种脉冲激光加热的高压样品测试装置有效
| 申请号： | 201822077107.2 | 申请日： | 2018-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN209387559U | 公开（公告）日： | 2019-09-13 |
| 发明（设计）人： | 方蓉;张向平;方晓华 | 申请（专利权）人： | 金华职业技术学院 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01N23/20033;G01N23/2005 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 321017 *** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及材料特性研究领域，一种脉冲激光加热的高压样品测试装置，包括下支撑盘、下顶砧、上顶砧、上支撑盘、垫圈、特氟龙环、样品、消色差透镜I、光阑、消色差透镜II、滤光片、分束器I、分束器II、光谱仪、示波器、光电二极管、信号发生器、激光器、分束器III、反射镜、聚焦透镜、光电倍增管和摄像机，采用激光脉冲加热方法能够使得样品的温度在毫秒时间量级内保持相对稳定，采用特殊的结构使得X射线能够以较大角度入射样品，样品外侧采用特氟龙环，采用对X射线散射及吸收较少的材料来对垫圈中的样品进行固定，增加样品稳定性的同时能够减少X射线的散射和衰减，能够对高压条件下的样品进行稳定加热及光谱测量，增加样品衍射信号信噪比。 | ||
| 搜索关键词： | 加热 分束器 消色差透镜 测试装置 高压样品 脉冲激光 特氟龙 散射 垫圈 材料特性研究 本实用新型 光电倍增管 光电二极管 信号发生器 样品稳定性 光谱仪 高压条件 光谱测量 激光脉冲 聚焦透镜 上支撑盘 时间量级 下支撑盘 衍射信号 激光器 反射镜 滤光片 上顶砧 示波器 下顶砧 信噪比 光阑 入射 衰减 摄像机 吸收 | ||
【主权项】：
1.一种脉冲激光加热的高压样品测试装置，包括下支撑盘(1)、下顶砧(2)、上顶砧(3)、上支撑盘(4)、垫圈(5)、特氟龙环(6)、样品(7)、消色差透镜I(8)、光阑(9)、消色差透镜II(10)、滤光片(11)、分束器I(12)、分束器II(13)、光谱仪(14)、示波器(15)、光电二极管(16)、信号发生器(17)、激光器(18)、分束器III(19)、反射镜(20)、聚焦透镜(21)、光电倍增管(22)和摄像机(23)，xyz为三维空间坐标系，光电倍增管(22)的输出端连接示波器(15)的输入端，光电二极管(16)的输出端连接示波器(15)的输入端，信号发生器(17)的输出端连接激光器(18)的触发端；消色差透镜I(8)、光阑(9)、消色差透镜II(10)、滤光片(11)、分束器I(12)、分束器II(13)和光谱仪(14)依次位于上顶砧(3)正上方并组成了成像光路，从样品(7)发出的光依次通过上顶砧(3)、消色差透镜I(8)、光阑(9)、消色差透镜II(10)和滤光片(11)，到达分束器I(12)并被分成相同的两束光，其中一束光偏转后进入光电倍增管(22)并转换为电信号输入示波器(15)，另一束光沿原路传播并在分束器II(13)处被再次分束，其中波长大于760纳米的部分进入光谱仪(14)，用于对样品(7)进行热成像、波长小于或等于760纳米的部分进入摄像机(23)，用于对样品(7)进行光学成像；光谱仪(14)的光入口具有快门及针孔，所述快门能够可控地开启或关闭，所述针孔的位置及大小能够调节以控制进入光谱仪(14)的光量，并能够用于光束的准直，根据光谱仪(14)记录的热辐射能够计算出样品(7)的温度；激光器(18)、分束器III(19)、反射镜(20)和聚焦透镜(21)组成了加热激光光路，激光器(18)发射的激光被分束器III(19)分成相同的两束，其中一束经过反射镜(20)反射后依次通过聚焦透镜(21)和上顶砧(3)并入射到样品(7)，另一束偏转后，射到光电二极管(16)上并转换为电信号输入示波器(15)，其特征是：下顶砧(2)形状为十面体，包括上面、下面、四个上侧面和四个下侧面，是将一个长、宽和高分别为7毫米、5毫米和4毫米的立方体金刚石块切割加工而成，上面和下面均平行于水平面，四个上侧面和四个下侧面均与水平面成45度角，定义与x轴平行的两个下侧面为下侧面I和下侧面III，定义与z轴平行的两个下侧面为下侧面II和下侧面IV；上顶砧(3)形状为两个上下同轴排列的上圆台和下圆台，上圆台的下底面与下圆台的上底面共面；下支撑盘(1)和上支撑盘(4)均为中空的圆柱体且均具有上开口和下开口，上支撑盘(4)的下开口内侧具有圆台形斜切面，所述圆台形斜切面与上顶砧(3)的上圆台的侧面接触；下支撑盘(1)的上开口内侧具有两个与x轴平行的上侧斜切面，所述上侧斜切面分别与下顶砧(2)的下侧面I和下侧面III接触，下支撑盘(1)的上开口与下顶砧(2)的下侧面II和下侧面IV之间无接触，入射光能够依次通过下支撑盘(1)的下开口、下顶砧(2)的下侧面II和下顶砧(2)的上面射到样品(7)，入射光与样品(7)相互作用后形成的衍射光能够依次通过下顶砧(2)的上面和下顶砧(2)的下侧面IV后，从下支撑盘(1)的下开口射出，下支撑盘(1)的下开口具有两个与z轴平行的下侧斜切面，所述两个下侧斜切面之间夹角为160度，能够通过下支撑盘(1)的下开口射出的所述衍射光与入射光的最大夹角为160度；垫圈(5)由基于金属锆的非晶合金制成，特氟龙环(6)位于垫圈(5)内，样品(7)位于特氟龙环(6)内。
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固定所述的衍射角2θ，改变所述的ψ和
分别记录所述的第一晶粒在001取向与011取向衍射最强峰时的ψ001、
和ψ011、
根据所述的ψ001、
和ψ011、
计算所述的第一晶粒的二次取向偏角。
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- 2019-04-26 - 2019-07-19 - G01N23/207
- X射线衍射仪溶剂蒸气处理原位测试附件属于X射线衍射仪原位测试技术领域，目的在于解决现有X射线衍射仪无法实现在溶剂蒸气处理过程中对材料微结构变化的实时原位表征的问题。本发明的X射线衍射仪溶剂蒸气处理原位测试附件包括产气装置、样品室以及气相色谱仪；所述样品室整体为密封结构，至少包括进气口、出气口以及设置在样品室侧壁的两个聚酰亚胺窗，所述样品室内设置有样品台；所述产气装置的排气口通过气路管和所述样品室的进气口连通；所述样品室的出气口通过气路管和所述气相色谱仪的进样口连通；X射线衍射仪经一个聚酰亚胺窗入射X射线并照射在所述样品台上的样品上，产生的衍射信号经另一个聚酰亚胺窗出射。
- 一种用于原位XRD测试的电解池反应室及测试方法-201610955020.3
- 苗恒;刘兴杨;周成坤;周海辉 - 深圳市贝特瑞新能源材料股份有限公司
- 2016-10-27 - 2019-07-19 - G01N23/207
- 本发明提供了一种用于原位XRD测试的电解池反应室及测试方法，电解池反应室从上到下依次包括工作电极盖、对电极座和可选地固定对电极座的底座；工作电极盖与对电极座密封并绝缘连接；工作电极盖包括盖体、测试窗口和可选地第一导电体；对电极座包括座体、滑块、移动装置和可选地第二导电体；所述移动装置与滑块连接，用于移动滑块，使滑块与测试窗口贴合。该电解池反应室用于原位XRD测试具有工作电极制备方法简单、快捷，可对同一极片进行连续测试，组件少、组装便捷，结构紧凑、体积小、设备通用性好，可重复使用的优势；所得图谱信噪比高，离轴误差小，无杂相峰干扰，工作电极电流密度均匀、测试电位准确、长循环中容量保持率高等特点。
- 一种多通道晶体单色器及其制备方法、工作方法-201710665733.0
- 刁千顺;洪振;张小威;石泓;郑黎荣 - 中国科学院高能物理研究所
- 2017-08-07 - 2019-07-09 - G01N23/207
- 本发明公开了一种多通道晶体单色器及其制备方法、工作方法。本发明的多通道晶体单色器，其特征在于，包括一具有本证对称性的晶体，选取该晶体一N次对称的晶向为轴，该晶体中以该轴对称的侧棱面分别切割出一工作面，形成以该轴为对称轴的一对工作面，且当X射线满足设定角度入射每一对工作面均能产生衍射；其中，N为偶数。其工作方法为：当X射线入射所述多通道晶体单色器时，控制所述多通道单色器绕所述轴旋转，当每对工作面与X射线的光路满足固定的角度差时产生光束出射。本发明既补偿了追求高速扫描带来的光源利用效率的损失，提高了采谱的效率，也同时降低了落在晶体上热负荷功率。
- 一种测定ZSM-22分子筛晶胞参数的粉末X射线衍射方法-201510604554.7
- 李瑞峰;王磊;谢彬;杨玉和;张艳玲 - 中国石油天然气股份有限公司
- 2015-09-21 - 2019-07-05 - G01N23/207
- 本发明公开了一种测定ZSM‑22分子筛晶胞参数的粉末X射线衍射方法，包括如下步骤：步骤一，将ZSM‑22分子筛样品经过研磨、过筛，然后焙烧活化，氯化镁饱和溶液控温恒湿处理，所述温控范围为35℃～65℃，控温恒湿吸水时间为3h～7h，得到待测工业试样；步骤二，在相同的粉末X射线衍射仪工作条件下，将所述ZSM‑22分子筛待测试样与NIST LaB6、氧化铝或云母外标样分别压入相应的粉末X射线衍射仪样品架中，进行试样衍射峰角度的外标校正测定并收集粉末X射线衍射数据；步骤三，在用外标样校正衍射峰角度之后，根据正交晶系晶面间距公式，计算所述ZSM‑22分子筛待测试样的晶胞参数。本发明方法快速、高效、省时、省力、可行且研磨、过筛无静电干扰。
- 用于确定样本中的应变分布的方法和系统-201480049323.8
- 吉拉德·巴拉克;沙伊·沃尔弗林;科尔内尔·博兹多格;马修·森德尔巴克 - 诺威量测设备股份有限公司
- 2014-07-08 - 2019-07-05 - G01N23/207
- 呈现了用来测量样本的一个或多个参数的控制系统。该控制系统包括：输入模块以及处理器模块。该输入模块被配置为接收包括第一数据和第二数据的输入数据，该第一数据包括样本的X射线衍射或高分辨率X射线衍射(XRD)响应数据，该X射线衍射或高分辨率X射线衍射(XRD)响应数据指示样本中的材料分布，第二数据包括样本对入射光的光学响应数据，该光学响应数据至少指示样本的几何形状。该处理器模块被配置为且可操作为处理和分析第一数据和第二数据中的一个用于优化第一数据和第二数据中的另一个，并且利用优化数据来确定样本的所述一个或多个参数，所述一个或多个参数包括样本中的应变分布。
- 一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法-201710142539.4
- 陈凯;寇嘉伟;朱文欣 - 西安交通大学
- 2017-03-10 - 2019-06-28 - G01N23/207
- 本发明公开了一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法，包括以下步骤：步骤一：运用公知的方法对实验所得所有扫描式劳厄衍射图谱进行寻峰操作，得到衍射峰的位置和积分强度；步骤二：判断扫描式劳厄衍射实验区域内两点是否为同一晶粒；步骤三：重检晶界；步骤四：从两种遍历方法中选择一种遍历方法，对实验区域内所有点进行遍历，完成对实验区域内所有点对应扫描式劳厄衍射图谱的峰的标定，并得到实验区域内的晶/相界分布；本发明方法与当前的其他对扫描式劳厄衍射扫描式劳厄衍射图谱的分析方法相比，具有计算量小，耗时短的特点。
- 一种中子衍射实验数据分析系统-201910235225.8
- 杨飞 - 中南大学
- 2019-03-27 - 2019-06-21 - G01N23/207
- 本发明公开了一种中子衍射实验数据分析系统，包括数据格式、内存数据结构、数据分析算法、数据输出四部分。该系统使用了一种基于JSON的文件格式，能够快速方便地存储和交换中子衍射地实验数据，并为此设计了一种高效的数据结构能够在计算机中对数据进行分析和处理。为了从中子实验数据中提取有效的实验信息，该系统采用了全新的基于L‑M的中子衍射实验数据处理算法，在L‑M算法前增设针对中子衍射实验数据进行专门优化的前处理器使得算法的结果准确性和算法收敛速度大幅提升。
- 一种软X射线光谱测量装置-201910209499.X
- 肖君;杨洋 - 复旦大学
- 2019-03-19 - 2019-06-18 - G01N23/207
- 本发明属于物理生物实验技术领域，具体为一种软X射线光谱测量装置。本发明装置包括：X射线相机、真空步进电机、真空滑轨、X射线分光晶体、遮光室、狭缝、升降旋转台，真空旋转台、真空升降台等；其中，X射线相机、半圆弧真空滑轨、真空旋转台等基本部件均放置于所述遮光室内；狭缝设置在遮光室一侧，用于限制入射光线大小；X射线相机、X射线分光晶体的中心、狭缝在同一水平面上，保证X射线相机出射的X射线，经过分光晶体反射，穿过狭缝出射。其中，除了电机、探测器配套的控制电源部分，所有的部件均放置于真空腔室内。本装置为具有特定自带真空测试腔室软X射线源的实验室开展的物理和生物研究提供高分辨X射线光谱测量服务。
- 一种新型无接触无损测量材料硬度的方法-201610597118.6
- 付鹏;徐志军;初瑞清;李伟;黄宝绪;王长征 - 聊城大学
- 2016-07-27 - 2019-06-11 - G01N23/207
- 本发明涉及一种新型无接触无损测试材料硬度的方法，该技术要点是，以强度为0.50+0.30+0.15mmA喷丸处理后的GCr15钢为研究对象，其表面具有较大的残余压应力和细化的组织结构，在高温退火时组织结构也会回复，实际可通过FWHM变化来间接表达组织结构的变化，同时残余压应力也会减小，并引起表面硬度的降低。通过不同温度下FWHM和残余应力随退火时间的变化趋势，建立不同退火温度下材料表面硬度与FWHM及残余应力的关系式。在对相同材料的硬度测试时，只需通过XRD技术测量对应的FWHM和残余应力大小，结合得到的关系式，即可计算得到硬度值。此方法为XRD测试技术的延伸，测试中不与试样接触，属于完全无损测试，不但便捷而且更有效。可以广泛应用于金属材料硬度的测量。
- X射线衍射装置和X射线衍射测定方法-201480052656.6
- 小林信太郎;光永徹;梶芳功系兆;新井和良 - 株式会社理学
- 2014-01-27 - 2019-06-04 - G01N23/207
- 不使用后级受光狭缝就能够变更测定分辨率，并且对于在使用后级受光狭缝的情况下无法实现的测定分辨率的变更也能够灵活地应对。本发明的X射线衍射装置对试样台(7)上的试样(S)照射由X射线源产生的X射线，利用检测器(15)来检测在该试样(S)处衍射后的X射线，具备虚拟掩模设定部(26)和信号处理部(21)。检测器(15)按形成检测面(17)的多个检测元件(16)的每个检测元件(16)，输出与由检测元件(16)接收到的X射线的强度相应的检测信号。虚拟掩模设定部(26)对检测器(15)的检测面(17)设定虚拟掩模(31)，并且至少能够设定虚拟掩模的开口尺寸来作为虚拟掩模(31)的开口条件，其中，该虚拟掩模的开口尺寸是在X方向和Y方向上独立地设定的。信号处理部(21)根据由虚拟掩模设定部(26)设定的虚拟掩模的开口条件对从检测器(15)输出的检测信号进行处理。
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