[发明专利]测试系统和方法在审
申请号: | 201880004907.1 | 申请日: | 2018-03-09 |
公开(公告)号: | CN110073228A | 公开(公告)日: | 2019-07-30 |
发明(设计)人: | 梅-梅·苏 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试公司 |
主分类号: | G01R31/319 | 分类号: | G01R31/319;G01R31/28 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 宗晓斌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 所提出的实施例有助于对被测设备进行有效且高效地接入。在一个实施例中,测试系统包括:基元,被配置为控制对被测设备(DUT)的测试;以及设备接口板(DIB)。设备接口板包括:载板、环境控制组件和被测设备接入接口。载板被配置为选择性地与被测设备和基元进行耦合。环境控制组件被配置为控制环境条件。被测设备接入接口被配置为允许被测设备的机扑操纵。操纵可以包括选择性地将被测设备耦合到载板。被测设备接入接口可以被配置为使能针对被测设备的机扑操纵进行无阻碍接入。 | ||
搜索关键词: | 被测设备 接入接口 载板 配置 环境控制组件 设备接口板 测试系统 基元 控制环境 耦合 耦合到 使能 测试 阻碍 | ||
【主权项】:
1.一种测试系统,包括:基元,被配置为控制对被测设备(DUT)的测试;以及设备接口板(DIB),其中,所述设备接口板包括:载板,被配置为选择性地与所述被测设备和所述基元进行耦合;环境控制组件,被配置为控制环境条件;以及被测设备接入接口,被配置为允许被测设备的机扑操纵,其中,所述操纵包括选择性地将所述被测设备耦合到所述载板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱德万测试公司,未经爱德万测试公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880004907.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有五个自由度的通用探测组件
- 下一篇:直流断路器的试验装置
- 同类专利
- 具有用于独立测试多个DUT的多个基于FPGA的硬件加速器块的测试体系架构-201380075596.5
- 杰拉德·陈;埃里克·库石尼克;梅-梅·苏 - 爱德万测试公司
- 2013-02-28 - 2019-11-12 - G01R31/319
- 本发明提供了能够执行对半导体器件进行测试的自动测试设备(ATE)。该ATE包括计算机系统,其包括通信地耦接至测试仪处理器的系统控制器。该系统控制器可操作为向处理器发送指令,并且处理器可操作为根据指令生成用于协调对多个被测器件(DUT)的测试的命令和数据。该ATE进一步包括通过总线通信地耦接至处理器的多个FPGA组件。每个FPGA组件包括至少一个硬件加速器电路,其可操作为在内部生成对处理器透明的用于测试DUT之一的命令和数据。另外,测试仪处理器被配置成在若干功能模式之一下操作,其中功能模式被配置成在处理器与FPGA组件之间分配用于生成命令和数据的功能。
- 在自动测试设备与受测装置之间连接的设备和测试系统-201580046056.3
- 蒂莫西·丹尼尔·莱昂斯 - 泰拉丁公司
- 2015-08-21 - 2019-09-24 - G01R31/319
- 本发明提供了一种用于连接在自动测试设备(ATE)与受测装置(DUT)之间的示例性设备,所述示例性设备包括:依次布置在所述ATE与所述DUT之间的多个级,其中所述多个级中的每一者包括驱动器,所述多个级中的至少两者各自包括滤波器,每个滤波器布置在两个驱动器之间,并且每个滤波器被配置为减少在所述ATE与所述DUT之间传输的信号中的由前一个驱动器产生的抖动。
- 对准设备与操作设备-201480057763.8
- 斯蒂芬·图迈尔 - 涡轮增压动力学股份有限公司
- 2014-08-21 - 2019-08-06 - G01R31/319
- 本发明涉及一种对准设备与操作设备。本发明特别涉及一种对准设备,用于位置准确地耦合操作设备以将接口单元更换到用于接收至少一个接口单元的另一个设备以及特别涉及一种用于更换接口单元的操作设备。
- 测试系统和方法-201880004907.1
- 梅-梅·苏 - 爱德万测试公司
- 2018-03-09 - 2019-07-30 - G01R31/319
- 所提出的实施例有助于对被测设备进行有效且高效地接入。在一个实施例中,测试系统包括:基元,被配置为控制对被测设备(DUT)的测试;以及设备接口板(DIB)。设备接口板包括:载板、环境控制组件和被测设备接入接口。载板被配置为选择性地与被测设备和基元进行耦合。环境控制组件被配置为控制环境条件。被测设备接入接口被配置为允许被测设备的机扑操纵。操纵可以包括选择性地将被测设备耦合到载板。被测设备接入接口可以被配置为使能针对被测设备的机扑操纵进行无阻碍接入。
- 一种数字芯片功能测试方法及系统-201610693431.X
- 史江义;李钊;缪磊;马佩军;古生霖;舒浩 - 西安电子科技大学
- 2016-08-19 - 2019-04-23 - G01R31/319
- 本发明提出了一种数字芯片功能测试方法及系统,用于解决现有技术中存在的测试准确率低的技术问题,本发明考虑了应用系统环境因素和故障信息对测试结果的影响,测试方法的步骤为:产生理想数字激励向量;应用系统环境模拟;故障信息模拟;模拟故障信号放大;整形和量化;受到应用系统环境影响的理想激励向量与故障信息叠加,产生最终测试向量;将最终测试向量输入给待测试芯片系统;检验输出响应的正确性,得出测试结论;测试系统包括依次相连的故障发生器、信号放大器、整形和量化器,依次相连的理想激励向量发生器和应用系统环境模拟器,整形和量化器及应用系统环境模拟器的输出端连接有叠加器,叠加器的输出端连接有待测试芯片系统。
- 在用于半导体测试的本地每引脚测试仪的自动测试设备上伪每站测试仪功能-201380054441.3
- 杰拉尔德·穆恩;伊拉·哈里斯·莱文塔尔;罗恩·拉森;萨吉特·卡拉姆常丹尼 - 爱德万测试公司
- 2013-10-16 - 2018-08-10 - G01R31/319
- 这里给出了用于测试器件的系统和方法。本发明的实施例使用中央控制器来协调多个被测器件的测试,以及多个信道电路,每个信道电路可操作为被耦合到上述多个被测器件中的被测器件的至少一个I/O引脚。此外,本发明的实施例包括多个中间处理器,每个中间处理器被耦合到中央控制器,并且可操作为接收和发送控制信号。这些中间处理器的每一个被耦合到多个信道电路中的不同组信道电路,并且可操作为独立于多个中间处理器中的任意其他中间处理器来针对与其相关联的被测器件的测试执行它们自己的测试程序实例化。
- 用于自动测试设备的校准装置-201680067621.9
- 布赖恩·C·瓦德尔;理查德·派伊 - 泰拉丁公司
- 2016-08-22 - 2018-07-17 - G01R31/319
- 本发明公开了一种示例性自动测试设备(ATE),其包括:测试仪器,该测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于基于该测试信号接收响应信号;装置接口板(DIB),该装置接口板连接至测试仪器,其中DIB包括应用空间,该应用空间具有DUT与其连接的位点,并且其中测试信号和响应信号传送通过该位点;以及DIB上的应用空间中的校准电路。该校准电路包括通信接口,经由该通信接口传送通信,其中通信包括到达该校准电路的控制信号和来自该校准电路的测量信号。校准电路还包括非易失性存储器以储存校准数据,并且基于控制信号可控制该校准电路,以将测试信号从测试仪器传送至DUT,并且将响应信号从DUT传送至测试仪器。
- 一种智慧型数字集成电路故障检测系统-201711038286.2
- 不公告发明人 - 成都优力德新能源有限公司
- 2017-10-28 - 2018-02-02 - G01R31/319
- 本发明提供一种智慧型数字集成电路故障检测系统,该检测系统由英飞凌XC2238N单片机、可编程输入/输出口、E2PROM、RAM、LED显示器和键盘等组成。该系统的E2PROM中存有各种集成电路芯片的最小测试集和标准结果,在电路中采用多个可编程I/O接口芯片与测试插座相连,监控测试程序分时分组送出被测芯片的测试集,并对测试结果数据进行分析处理之后通过LED显示出来。该数字集成电路故障检测系统结构简单、成本低廉,能够实现对TTL74、54系列芯片的故障测试,并能达到提高测试效率,减少测试时间的目的,具有良好的移植扩展性。
- 用于测试装置的接口电路-201380042977.3
- P·邹;F·特努斯;D·J·哈里曼 - 英特尔公司
- 2013-06-24 - 2017-09-22 - G01R31/319
- 在一个实施例中,测试装置包括现场可编程门阵列(FPGA),所述FPGA包括用于根据电流模式逻辑(CML)信令而通信第一信号的第一发射器,以及用于根据所述CML信令而接收第二信号的第一接收器,以及接口电路,其用于将所述FPGA耦合至根据电压模式信令进行通信的设备。所述接口电路可以使由所述第一发射器根据所述CML信令而通信的所述第一信号适应于由所述设备用来接收的电压模式信令信号。描述并要求保护了其它实施例。
- 用于高电压开关的装置和方法-201380024433.4
- D.吉恩;W.乔;B.切昂格 - 桑迪士克科技有限责任公司
- 2013-04-29 - 2017-06-30 - G01R31/319
- 公开了用于经由高电压开关耦合用于半导体器件的高电压的装置和方法。高电压开关包括开关和电平偏移器。在电压源和电压输出之间定义该开关。使能线耦合于该开关的第一晶体管。电平偏移器包括输入和输出。特征线耦合于电平偏移器的输入,并且电平偏移器的输出耦合到该开关的第二晶体管。电平偏移器还包括在第一晶体管和第二晶体管之间的耦合于该开关的导电轨。
- 测试半导体结构的方法-201380050136.7
- 龚宇清;刘恒立;金明燮;苏芮戌·P·帕拉玛斯伟朗;张庆煌;布恩·Y·安格 - 吉林克斯公司
- 2013-05-22 - 2017-04-26 - G01R31/319
- 一种集成电路(IC),包括布线电路系统,其在该集成电路的多个布线层(116,202)中包含复数条讯号线路区段(206,208);以及复数个微凸块接点(118,204,222),其被耦合至该布线电路系统。该集成电路包含复数个测试电路(102‑104,220,302),被耦合至该复数条讯号线路区段所组成的相应子集。每一个测试电路被配置成用以连接该相应子集中的微凸块接点,以便形成第一组(230,320)菊链以及第二组(232,322)菊链。每一个测试电路被配置成用以测试该第一组菊链与第二组菊链的开路,并且测试该第一组菊链与第二组菊链之间的短路。每一个测试电路被配置成用以决定被侦测到之开路的位置并且决定被侦测到之短路的位置。
- 计算机主板在线快速测试装置-201610755792.2
- 任剑岚;刘冰洁 - 任剑岚
- 2016-08-28 - 2017-02-15 - G01R31/319
- 本发明提供一种计算机主板在线快速测试装置,包括顶板、底板、以及可上下移动的载板,底板上放置待测试计算机主板,待测试计算机主板上设有CPU插槽,载板的下端面上设有与CPU插槽上下相对设置的公用CPU,待测试计算机主板在CPU插槽的四个边角处设有锁紧螺纹孔,载板和公用CPU中穿设有四个分别位于公用CPU四个边角处的锁紧件;载板的上端面上安装有电机和传动箱,传动箱内设有传动机构,电机通过传动机构驱动四个锁紧件转动,使锁紧件的锁紧杆部的下端旋入待测试计算机主板的锁紧螺纹孔中。本申请能够同时自动拧紧或旋松四个锁紧件,实现快速地将公用CPU锁紧在待测试计算机主板上或从待测试计算机主板上拆除,大大提高在线测试效率。
- 在测试压缩环境中的测试调度和测试访问-201180024530.4
- 马克·A·卡萨布;马努加尔斯基·格热戈什;尼兰简·穆克赫杰;贾纳兹·拉杰斯基;詹尼奇·雅各布;泰泽尔·杰吉 - 明导公司
- 2011-03-16 - 2016-11-09 - G01R31/319
- 本发明公开了用于在测试压缩环境中进行测试调度和测试访问的方法、装置和系统的代表性实施例。用于测试一个电路中多个核心的测试模式群集根据包括压缩测试数据、相应测试器信道要求和关联核心的测试信息形成。测试模式群集形成之后进行测试器信道分配。可以采用一种最佳拟合方案或平衡拟合方案生成信道分配信息。可以根据信道分配信息来设计用于动态信道分配的测试访问电路。
- 用于测试器的校准模块和测试器-201080070917.9
- 马丁·穆克;桑德拉-克里斯汀·佛瑞克;乔纳斯·豪斯特 - 爱德万测试公司
- 2010-12-22 - 2016-10-26 - G01R31/319
- 一种用于测试被测器件的测试器的校准模块,该校准模块包括一对RF通道端子、校准装置、一对测量端子和模式选择器。该对RF通道端子被配置为向测试器的RF通道发送或从测试器的RF通道接收测量信号。校准装置被配置为基于发送到RF通道或从RF通道接收的测量信号来执行RF通道的校准。该对测量端子被配置为向被测器件发送或从被测器件接收测量信号。模式选择器用于在校准阶段中将该对RF通道端子连接到校准装置以便校准RF通道,并且在测量阶段中将该对RF通道端子连接到该对测量端子以便将测量信号从RF通道引导至被测器件或将测量信号从被测器件引导至RF通道。
- 用于半导体集成电路器件的功能数字测试的自动测试设备-201610095251.1
- M·R·米迪尔 - 得克萨斯测试公司
- 2016-02-19 - 2016-08-31 - G01R31/319
- 一种用于测试多个半导体集成电路器件的数字功能的自动测试设备,所述多个半导体集成电路器件同时连接到该设备,该设备生成适于测试至少一个器件的数据模式。数据模式的激励测试信号被复制并被分布到器件。器件对测试信号的期望响应信息也被复制并被分布到比较器,以将器件的实际响应与期望响应相比较。
- 具有存储器上的加速以及用于FPGA块内自动模式生成的加速的测试器-201380072154.5
- 约翰·费迪尼;安德鲁·尼米克 - 爱德万测试公司
- 2013-02-28 - 2016-01-06 - G01R31/319
- 提供了能执行半导体器件的高速测试的自动测试设备。该自动测试设备包括测试器处理器的计算机系统,其中测试器处理器通信地耦接到多个FPGA组件。多个FPGA组件中的每个耦接到存储器模块并包括:可操作来从测试器处理器接收命令和数据的上游端口;可操作来与多个受测设备DUT中的相应DUT通信的下游端口;以及多个硬件加速器电路,其中每个硬件加速器电路被配置为与多个DUT中的一个DUT通信。每个硬件加速器电路包括:模式生成器电路,可配置为自动生成要被写入多个DUT中的一个DUT的测试模式数据;以及比较器电路,被配置为将从所述多个DUT中的所述一个DUT读取的数据、与写入到所述多个DUT中的所述一个DUT的测试模式数据进行比较。
- 微控制器分析工具-201380069926.X
- 琼·欧莱·如斯坦 - 北欧半导体公司
- 2013-12-17 - 2015-09-09 - G01R31/319
- 一种用于分析微控制器性能的设备,该设备包括微控制器集成电路(2),至少一个选自包括分析仪(12)和发生器(14)的组的仪器,以及互连模块(8),互连模块(8)包括在所述微控制器集成电路(2)和所述仪器(12、14)之间的可配置互连。所述设备还包括软件(16),软件(16)设置成控制所述互连模块(8),以便基于用户所选的功能以及所述微控制器集成电路(2)的确定的能力和连接来确定所述互连,其中所述设备自身被配置为确定所述微控制器集成电路(2)的至少一些能力和连接。
- RF探头-201280077750.8
- 兰迪·巴尔塞坦 - 爱德万测试公司
- 2012-12-17 - 2015-09-02 - G01R31/319
- 本发明的实施例提供了一种用于从电路的传输线耦合出探测信号的RF探头。RF探头包括至少两个探头引脚,探头引脚具有第一端和第二端,第一端用于接触电路。另外,RF探头包括用于在探头引脚的第二端处提供可变阻抗的装置。RF探头被配置为基于沿探头引脚中的至少一个探头引脚传播的信号来提供探测信号。
- 用于测量电子组件的装置-201380013049.4
- R·诺伊豪泽尔 - 罗森伯格高频技术有限及两合公司
- 2013-03-07 - 2014-11-19 - G01R31/319
- 本发明涉及用于测量电子组件的装置,该装置具有涂覆至介电导体载体的多个导体,所述多个导体各自与接触指和连接触点这二者连接,所述装置的特征在于,在至少一个导体中集成有切换器,其中所述导体额外地通过所述切换器与地连接部件相连接。
- 用于提取在被测器件与自动测试设备之间进行交换的信号的概念-201180074738.7
- 乔斯·安东尼奥·艾尔维斯·莫瑞拉;马克·毛斯恩格 - 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
- 2011-11-09 - 2014-07-09 - G01R31/319
- 本发明提供用于提取在被测器件(124)与自动测试设备(122)之间进行交换的信号的印刷电路板(100)。印刷电路板(100)包括多个第一端子(102)、多个第二端子(104)、多条传输线路(106)以及提取电路(108)。提取电路(108)电耦接到多条传输线路(106)中的一条传输线路并且被配置为提取通过该条传输线路(106)在被测器件(124)与自动测试设备(122)之间进行交换的信号以便提供提取的信号(110),其中提取电路(108)包括电阻器(112)或电阻器网络,其中由于印刷电路板的存在而附加在通过该条传输线路在被测器件与自动测试设备之间进行交换的信号上的损耗小于6dB。
- 夹具-201180071121.X
- D.穆尼滋;张锡海 - 伊斯梅卡半导体控股公司
- 2011-05-26 - 2014-01-29 - G01R31/319
- 根据本发明,提供了一种夹持测试接触工具,其适于夹持部件,使得部件在被处理的同时保持在固定位置,该夹具包括第一指状部和第二指状部,第一指状部可枢转地安装在第一枢轴点处,并且第二指状部可枢转地安装在第二枢轴点处,使得第一指状部和第二指状部可各自朝中心平面枢转;其中,第一指状部和第二指状部各自包括适于与待夹持的部件相配合的表面,其中,第一指状部和第二指状部各包括止动装置,该止动装置适于与待夹持的部件相配合以限制该部件相对于相应指状部的运动,使得施加力至该部件将导致第一指状部和第二指状部夹紧该部件。还提供了包括这种夹具的处理工位,以及相应的夹持部件的方法和处理部件的方法。
- 用于运行被配置为测试器件的自动测试系统的方法-201310356671.7
- 斯蒂芬·J·霍特亚克;阿兰·L·布利茨;兰德尔·B·斯廷森 - 泰拉丁公司
- 2004-06-12 - 2013-12-18 - G01R31/319
- 本发明涉及一种用于运行被配置为测试器件的自动测试系统的方法。自动测试系统例如可作为制造过程的一部分用来测试半导体器件。该测试系统使用仪器来产生和测量测试信号。该自动测试系统具有使得在其被制造之后将仪器添加到测试系统上的硬件和软件体系结构。该软件分成仪器专用软件和独立于仪器的软件。软件组件的预定义接口使得能够容易地将仪器集成到测试系统中,并且在测试系统的实际实现时或仪器随产品系列中的测试机改变时能够容易地重用该软件。
- 用于半导体装置的并行测试的系统-201180022547.6
- 贝瑟尼·范瓦格勒;森格·J·爱德华 - 泰拉丁公司
- 2011-05-04 - 2013-04-10 - G01R31/319
- 一种帮助测试工程师创建并行测试计划的工具。所述工具可迅速地将测试系统资源映射到特定引脚以满足并行测试的需求。当可以进行此类映射时,所述工具可预计测试时间。当不能进行映射时,所述工具可告知其用户,包括提出有关可允许所述测试系统执行所述测试的另外资源的建议或有关可允许映射的输入参数的其他变型的建议。所述工具采用一种分配方法,其中识别相关引脚的组以及每组的相关资源需求。识别共同满足较高级需求的测试系统资源组,并通过将资源集合映射到资源组进行所述分配,同时使用排序和匹配启发法以减少处理时间。
- 用于测试多个被测器件的装置和方法-201080066220.4
- 克劳斯-皮特·贝仁斯;马克·毛斯恩格 - 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
- 2010-04-14 - 2013-03-27 - G01R31/319
- 本发明的实施例涉及用于测试多个被测器件的装置(10)和方法,其中装置包括:公用器件输出线(5);驱动器单元(2),被配置为向DUT(DUT1,DUT2,DUT3,…,DUTN)提供激励(ST),其中驱动器单元(2)被配置成使得激励(ST)在不同的时间(T1,T2,T3,…,TN)到达不同的DUT;从而在DUT处产生激励时间偏移(ΔST1,ΔST2,ΔST2,…,ΔSTN-1);接收器单元(8),电气耦合到公用器件输出线(5);以及多个DUT连接(C1,C2,C3,…,CN),电气耦合到公用器件输出线(5),使得多个DUT的DUT端子(11)可经由公用器件输出线(5)电气耦合到接收器单元(8),其中DUT输出信号(OS1,OS2,OS3,…,OSN)从DUT连接(C1,C2,C3,…,CN)传播到接收器单元(8)的输出信号传播延迟与激励时间偏移(ΔST1,ΔST2,ΔST2,…,ΔSTN-1)相适应,使得具有相同激励响应延迟的DUT的测试在接收器单元(8)处引起DUT输出信号(OS1,OS2,OS3,…,OSN)的时间上对齐的叠加(SPN-1)。
- 针对测试组的执行而调度测试布置的测试资源的使用的方法和装置-200980162991.0
- 沃尔夫冈·霍恩 - 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
- 2009-12-15 - 2013-01-30 - G01R31/319
- 在本发明的实施例中,用于针对测试组的执行而调度对测试布置(100)的测试资源的使用的方法和装置(105)被描述。本发明的方法包括获取(10)对用于利用所述测试布置(100)来测试被测器件(DUT)的测试流程(5)中的每个测试组(TG)做出的所述测试布置(100)的测试资源的指派,其中所述测试流程(5)包括所述测试组的初始执行次序。另外,该方法包括检查(20)在对测试流程(5)中的测试组做出的测试资源的指派与对另一测试流程中的另一测试组做出的一个或多个测试资源的指派之间是否存在资源冲突(7),所述另一测试组被调度用于利用所述测试布置进行与所述给定测试组在时间上重叠的执行。此外,该方法包括响应于检查是否存在资源冲突的结果而操纵(30)测试流程中的测试组(TG)的执行次序的步骤,以使得通过以与结合移动操作执行时间间隔插入操作从而将与所述资源冲突相关联的测试组移动到所插入的时间间隔相比更高的优先级在测试流程中与资源冲突相关联的测试组之间执行交换操作(11),来消除资源冲突。
- 用于测试待测装置的方法及设备-201080062069.7
- 吉尔·戈洛夫;托马斯·亨克;罗纳德·拉森;尤瑞驰·那克 - 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
- 2010-01-20 - 2013-01-09 - G01R31/319
- 公开了一种测试待测装置(130)的概念,该概念包括:从至少一个测试通道集成电路(240-n)接收描述至少一个硬件资源(150)的期望操作的至少一个逻辑控制命令(U-CTRL-n),所述至少一个测试通道集成电路被专用于借助于至少一个硬件资源(615;616)与所述待测装置(130)的输入针脚或输出针脚进行通信;并且借助于资源控制装置(260)将所述至少一个逻辑控制命令(U-CTRL-n)转换成用于所述至少一个硬件资源的至少一个专用控制命令(D-CTRL-n),其中所述至少一个专用控制命令(D-CTRL-n)适合于所述至少一个硬件资源(615;616)的物理实施方式。
- 合成传输器和压实工具以测试基于扫描的集成电路的方法-201110377919.9
- 王荣腾;王信博;温晓青;林孟祺;林仕鸿;叶大嘉;蔡森炜;K·S·埃布德尔-哈非茨 - 美国华腾科技股份有限公司
- 2003-01-16 - 2012-06-13 - G01R31/319
- 本发明公开了合成传输器和压实工具以测试基于扫描的集成电路的方法,包括用于减少基于扫描集成电路中的ATE(自动测试设备)(202)的测试数据量和测试实施时间。基于扫描集成电路包含多路扫描链、每个扫描链包括连续连接的多个扫描单元。传输器(208)是连接至任意虚拟扫描控制器和任意扫描连接器的组合逻辑网络。虚拟扫描控制器控制传输器的操作。该系统传输存储进ATE(202)中的虚拟扫描图案并通过传输器产生传输扫描图案(219)以用于测试基于集成电路中的测试制造错误。该方法进一步用于重新排序在选择出的扫描链中的扫描单元,以产生传输扫描图案和虚拟扫描图案,并合成在基于扫描集成电路中的传输器和压实工具。
- 通用型数字电路板功能测试电路-201120394903.4
- 段敬红;姜楠 - 天津七六四通信导航技术有限公司
- 2011-10-17 - 2012-06-06 - G01R31/319
- 本实用新型涉及一种通用型数字电路板功能测试电路,包括PC机,还包括ARM处理器、存储程序的FPGA、单板机I、单板机II、稳压器、测试接口I、测试接口II,FPGA分别与ARM处理器、单板机I、单板机II、稳压器、测试接口II连接,ARM处理器分别与PC机、测试接口I、单板机I、单板机II连接。本实用新型的特点是:该电路可以对数字电路板进行通信、协议、I/O口输出等多种功能监测。可以满足上整机前的数字电路板功能检测及研制过程中的功能测试。1、接口多,可满足多种通信方式,通用性好。2、功能齐全。3、产品造价低,使用范围广。
- 调制后的被测试信号的测试装置以及测试方法-201080037527.1
- 石田雅裕;渡边大辅;冈安俊幸 - 株式会社爱德万测试
- 2010-08-09 - 2012-05-30 - G01R31/319
- 测试装置(2)对来自DUT(1)的调制后的被测试信号(S1)进行测试。交叉定时数据生成部(10)用于生成交叉定时数据,所述交叉定时数据表示被测试信号(S1)的电平分别与多个阈值进行交叉的定时。期望值数据生成部(30)用于生成定时期望值数据,所述定时期望值数据表示在将被测试信号(S1)所期望的期望值波形(S2)与多个阈值进行比较时期望值波形与各阈值进行交叉的定时。定时比较部(40)对交叉定时数据与定时期望值数据进行比较。
- 接收装置、测试装置、接收方法及测试方法-200980159217.4
- 鹫津信荣 - 爱德万测试株式会社
- 2009-05-25 - 2012-04-18 - G01R31/319
- 本发明提供一种接收装置,其使用从接收信号的边缘再生的再生时钟来导入所述接收信号。该接收装置具有:生成再生时钟的再生时钟生成部;与再生时钟的脉冲对应,产生相位彼此相异的多个选通的多重选通产生部;检测部,基于多个选通的各自时序中的接收信号的值,检测相对于多个选通的接收信号的边缘位置;调整部,其对应接收信号的边缘位置,调整再生时钟的相位;以及导入部,其在相对于再生时钟偏离了预先设定的设定相位差的量的时序中,导入接收信号。
- 专利分类