[发明专利]用于检查系统的检测器和方法有效
申请号: | 201880027063.2 | 申请日: | 2018-03-09 |
公开(公告)号: | CN110622039B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | G·杰古;J-M·福吉耶 | 申请(专利权)人: | 德国史密斯海曼简化股份公司 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20;G01V5/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨;王晓晓 |
地址: | 法国塞纳*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在一个实施方式中,提供了一种用于检查系统的检测器(1),包括:至少一个第一闪烁体(3),所述第一闪烁体被配置为响应于与检查辐射脉冲(5)的相互作用而在第一波长域中重新发射第一光线(6);至少一个第二闪烁体(4),所述第二闪烁体被配置为响应于与所述检查辐射脉冲(5)的相互作用,在不同于所述第一波长域的第二波长域中重新发射第二光线(7);以及至少一个第一传感器(8),所述第一传感器被配置为测量所述第一光线(6)而不是所述第二光线(7)。 | ||
搜索关键词: | 用于 检查 系统 检测器 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于检查系统的检测器,包括:/n至少一个第一闪烁体,所述第一闪烁体被配置为响应于与检查辐射脉冲的相互作用而在第一波长域中重新发射第一光线;/n至少一个第二闪烁体,所述第二闪烁体被配置为响应于与所述检查辐射脉冲的相互作用,在不同于所述第一波长域的第二波长域中重新发射第二光线;以及/n至少一个第一传感器,所述第一传感器被配置为测量所述第一光线而不是所述第二光线。/n
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