[发明专利]一种片上噪声测试及自修复系统

摘要

本发明公开一种片上噪声测试及自修复系统，该系统包括片上噪声接收链路单元和片上噪声源及噪声校准单元，片上噪声接收链路单元包括片上DUT单元，片上接收机单元和噪声及非线性抵消单元。片上噪声接收链路单元用于噪声接收，噪声频谱输出和噪声特性优化。片上噪声源及噪声校准单元用于提供噪声并实现噪声校准。该片上噪声测试及自修复系统能够通过在片测试接收机在不同噪声温度下的噪声能量，得到噪声系数，调节射频前端的工作状态达到最佳噪声特性，从而实现在片噪声性能测试及自修复。

主权项

1.一种片上噪声测试及自修复系统，其特征在于，该系统包括片上噪声接收链路单元和片上噪声源及噪声校准单元；所述的片上噪声接收链路单元包括片上DUT单元、片上噪声接收机单元、噪声及非线性抵消单元，所述的片上DUT单元包括低噪声放大器，所述的片上噪声接收机单元包括下变频混频器、可调增益放大器、低通滤波器、集成含乘法器和累加器的数字信号处理系统的模/数转换模块。所述的低噪声放大器的输入端与信号输入端相连，信号由外部天线信号通过耦合器接入；低噪声放大器的输出端与所述的下变频混频器的第一个信号输入端相连，下变频混频器的输出端与可调增益放大器的输入端连接；可调增益放大器的输出端与低通滤波器的输入端连接；低通滤波器的输出端与所述的模/数转换模块的第一个信号输入端连接；其中，下变频混频器第二个信号输入端接入接收芯片的LO信号，所述的LO信号由外部电路给出；所述的模/数转换模块的第二个信号输入端接入ADC时钟信号，所述的ADC时钟信号由外部电路信号控制；所述的噪声及非线性抵消单元的两端分别接在低噪声放大器的两端。所述的噪声及非线性抵消单元用于电路中噪声抵消和非线性抵消。所述的片上噪声源及噪声校准单元用于产生冷、热噪声，所述的冷、热噪声可用于模拟Dicke开关，构建两个交错的工作周期，在接收周期中，检测来自天线的输入信号，在校准周期中检测该单元中的参考电阻，使天线的输入电阻与参考电阻相等从而实现噪声校准，并实现复用片上噪声接收链路。