[发明专利]近场屏蔽效能测试装置、系统及方法有效
| 申请号： | 201910669976.0 | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110456189B | 公开（公告）日： | 2022-02-15 |
| 发明（设计）人： | 王磊;方文啸;邵伟恒;恩云飞;黄云;雷登云;王铁羊 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 明霖 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种近场屏蔽效能测试装置、系统及方法，利用设置在基板表面上方的微带线和带状线所形成的场线耦合效应，进行电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。同时，由于带状线和微带线均可工作至高频，能够支持高频处电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。基于此，测试人员可将矢量网络分析仪的各端口分别连接至微带线的第一端、带状线的第一端和/或带状线的第二端，使矢量网络分析仪获取到各端口间的耦合传输系数，以分析微带线和带状线间的场线耦合效应，对比加载或未加载待测试样时的场线耦合效应，得到电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的测量结果，即待测试样的近场屏蔽效能测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 近场 屏蔽 效能 测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种近场屏蔽效能测试装置，其特征在于，包括基板、微带线、带状线、第一阻抗匹配件和第二阻抗匹配件；/n所述微带线平行设置在所述基板表面上方；其中，所述微带线的第一端用于连接矢量网络分析仪，所述微带线的第二端连接所述第一阻抗匹配件；/n所述带状线设置在所述微带线上方，以使所述微带线与带状线间形成均匀的电磁场；其中，所述带状线的第一端用于连接所述矢量网络分析仪，所述带状线的第二端连接所述第二阻抗匹配件，并用于连接所述矢量网络分析仪；/n所述基板用于放置待测试样，以使所述微带线处于所述基板与所述待测试样之间。/n
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