[发明专利]半导体装置封装和其制造方法在审

专利信息
申请号: 201910962645.6 申请日: 2019-10-11
公开(公告)号: CN111463186A 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 宋嘉濠;陈轩宇;林裕凯 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/538;H01L21/48;H01L21/768
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 蕭輔寬
地址: 中国台湾高雄市楠梓*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体装置封装包含半导体裸片、第一导电元件、第二导电元件、金属层,以及第一再分布层(RDL)。所述半导体裸片包含第一表面和与所述第一表面对置的第二表面。所述第一导电元件安置在所述半导体裸片的所述第二表面上。所述第二导电元件与所述半导体裸片相邻安置。所述金属层安置在所述第二导电元件上,且电连接到所述第二导电元件。所述第一RDL安置在所述金属层上,且电连接到所述金属层。
搜索关键词: 半导体 装置 封装 制造 方法
【主权项】:
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