[发明专利]一种利用聚焦离子束进行切割制备非均质材料透射样品的方法有效
| 申请号： | 201911359367.1 | 申请日： | 2019-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN110954565B | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 魏大庆;邹永纯;杜青;郭舒;张宝友;来忠红 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/20008;G01N1/28 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 岳泉清 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种利用聚焦离子束进行切割制备非均质材料透射样品的方法，本发明涉及制备非均质材料透射样品的方法。本发明要解决现有方法制备的透射样品位置随机性强，不适用于特定区域的透射样品制备的问题。方法：一、待检测区域的选取与保护；二、非均质材料透射试样粗切；三、非均质材料透射试样细切；四、非均质材料透射试样凹形细切；五、非均质材料透射试样样品提取与固定；六、非均质材料透射试样样品精修，即完成利用聚焦离子束进行切割制备非均质材料透射样品的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 聚焦 离子束 进行 切割 制备 非均质 材料 透射 样品 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学，未经哈尔滨工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911359367.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
