[发明专利]存储器及其测试方法有效
申请号: | 202010846071.9 | 申请日: | 2020-08-21 |
公开(公告)号: | CN111816241B | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 钱海涛;路利刚 | 申请(专利权)人: | 上海燧原科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/18 | 分类号: | G11C29/18;G11C29/00;G11C29/44 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201209 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种片上系统的存储器及其测试方法。所述存储器包括:多个物理存储单元;多个第一逻辑映射单元,每个所述第一逻辑映射单元与至少两个所述物理存储单元电连接;第二逻辑映射单元,所述第二逻辑映射单元与所述第一逻辑映射单元电连接;测试逻辑单元,所述测试逻辑单元与所述第二逻辑映射单元电连接,用于通过所述第二逻辑映射单元及所述第一逻辑映射单元对所述物理存储单元进行测试;所述片上系统的功能电路复用为所述第一逻辑映射单元,所述功能电路还用于在对所述物理存储单元测试以外时工作。本发明实施例的存储器中由第一逻辑映射单元、第二逻辑映射单元以及测试逻辑单元组成的测试逻辑具有面积小等优势。 | ||
搜索关键词: | 存储器 及其 测试 方法 | ||
【主权项】:
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