[发明专利]一种测量用的参数校准系统在审

专利信息
申请号: 202010862700.7 申请日: 2020-08-25
公开(公告)号: CN111998885A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 马从国;翁润庭;杨中员;曹天一;周恒瑞;王建国;丁晓红;王苏琪;张海江;陈亚娟;刘伟;李亚洲 申请(专利权)人: 淮阴工学院
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 淮安市科文知识产权事务所 32223 代理人: 李锋
地址: 223005 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及测量技术领域,公开了一种测量用的参数校准系统,包括参考物架置台、传感器架置板与基层平台,参考物架置台、传感器架置板设置于基层平台上,基层平台上还设置有第一纵向滑移组件、横向滑移组件;传感器架置板设置于横向滑移组件上,传感器架置板上设置测量传感器,其随横向滑移组件横向滑动且横向滑移组件随第一纵向滑移组件纵向滑动。传感器架置板上还设置MSP430单片机检测单元,其上设置校准算法,对测量传感器的测量值进行校准。与现有技术相比,本发明通过第一纵向滑移组件、横向滑移组件实现测量传感器的横向移动与纵向移动,通过监测单元对测量传感器的测量值进行校准,能准确的校准测量传感器的测量值。
搜索关键词: 一种 测量 参数 校准 系统
【主权项】:
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