[发明专利]一种用于多芯片组件的可制造性审查方法及系统有效
| 申请号： | 202011001771.4 | 申请日： | 2020-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN112307707B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 李杨;曾策;伍艺龙;张晏铭;廖翱;舒攀林;张继帆;王辉;李阳阳;侯奇峰;徐榕青;向伟玮;毛小红 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F119/18 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 刘世权 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子器件封装领域，公开了一种用于多芯片组件的可制造性审查方法及系统，本方法包括：在设计环境中给设计文件设置基板的类型；根据设置的基板类型，从规则文件集中匹配出所述类型基板的规则文件，读取并载入所述规则文件中的所有规则条目及规则值；对设计文件中不存在但在对设计文件的可制造性规则的审查中需要的工艺信息进行赋值，将赋值后的工艺信息写入设计文件中；从读取得到的规则条目中，选择待审查的规则条目，进行设计文件的可制造性审查，对于审查不通过的设计文件进行设计问题的定位及更改。本发明提供的一种用于多芯片组件的可制造性审查方法及系统，可显著提升审查的效率和准确度，提高设计的一次成功率，降低制造成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 组件 制造 审查 方法 系统 | ||
【主权项】：
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