[发明专利]磁阻位移测量装置在审
申请号: | 202011279095.7 | 申请日: | 2020-11-16 |
公开(公告)号: | CN114508993A | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 梅辉;安德里亚斯·沃斯;杨峰 | 申请(专利权)人: | 精量电子(深圳)有限公司;泰连传感器德国有限公司 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪洋 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种磁阻位移测量装置,包括:一个磁性标尺,可沿其长度方向移动;和多个磁阻传感器,沿所述磁性标尺的长度方向均匀间隔分布,用于检测所述磁性标尺的位移。所述多个磁阻传感器串联电连接,并且相邻两个磁阻传感器之间的间距等于所述磁性标尺的长度H。在本发明中,通过将多个磁阻传感器串联,可在不增加安装空间的尺寸的情况下增大磁性标尺的行程和减小磁性标尺的长度。 | ||
搜索关键词: | 磁阻 位移 测量 装置 | ||
【主权项】:
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