[发明专利]一种光控膜制备方法在审
申请号: | 202011589328.3 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN112698544A | 公开(公告)日: | 2021-04-23 |
发明(设计)人: | 王祖超 | 申请(专利权)人: | 苏州莱科光学科技有限公司 |
主分类号: | G03F1/20 | 分类号: | G03F1/20;G03F1/80 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 滕诣迪 |
地址: | 215513 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种光控膜制备方法,本发明先制作光刻掩膜,利用光刻掩膜通过光刻技术制备光刻模具,最后利用光刻模具进行光控膜制备,本发明通过光刻方式制备模具,大大提高模具的精确度,并通过制备出的模具对光膜进行加工从而制备出可以提供高透过率防窥膜,本发明通过光刻技术制备出高精度模具,通过高精度模具制造出具有高透过率防窥膜的光学设计,本发明制备的光控膜可以根据不同应用需要而调整出光角度,从而达成不同的光控需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 光控 制备 方法 | ||
【主权项】:
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- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备