[发明专利]干涉条纹计数方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110780597.6 申请日: 2021-07-09
公开(公告)号: CN113566698B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 罗鑫龙;陈伟龙;吴荣昌;陈健文;朱光伟;孙巍;胡学浩;曲航 申请(专利权)人: 汕头大学
主分类号: G01B9/02056 分类号: G01B9/02056;G01B11/04
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 叶洁勇
地址: 515063 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及光学检测技术领域,尤其是一种干涉条纹计数方法及装置。该方法包括:引导经放大后的干涉条纹照射两个光敏器件,使两个光敏器件同时落入一亮条纹或暗条纹的范围内;通过单片机检测两个光敏器件的电信号;根据照射到两个光敏器件上的光照强度的强度变化次序,确定干涉条纹沿两个方向上的移动数量;根据干涉条纹在两个方向上的移动数量的差值,确定干涉条纹的实际移动方向和实际移动数量。该装置包括两个光敏器件和单片机。本发明通过将干涉条纹进行放大处理后再由单片机进行测定,避免直接测定过密干涉条纹移动带来的误差。
搜索关键词: 干涉 条纹 计数 方法 装置
【主权项】:
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