[发明专利]位移测量装置和位移测量方法在审
申请号: | 202110966418.8 | 申请日: | 2021-08-23 |
公开(公告)号: | CN115711570A | 公开(公告)日: | 2023-02-24 |
发明(设计)人: | 梅辉;曾有军;安德里亚斯·沃斯;阿明·迈森伯格 | 申请(专利权)人: | 精量电子(深圳)有限公司;泰连传感器德国有限公司 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02 |
代理公司: | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人: | 脱颖 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种位移测量装置和位移测量方法。位移测量装置包括:线性磁感应阵列,包括沿直线方向排成一列的多个磁感应传感器;磁控开关阵列,与线性磁感应阵列并排设置,且包括沿直线方向排成一列的多个磁控开关;磁体,能够相对于线性磁感应阵列和磁控开关阵列沿直线方向移动;位置范围确定单元,根据多个磁控开关的开关状态确定磁体在直线方向上的位置范围;信号采集单元,采集位于位置范围内的磁感应传感器所检测到的磁场强度信号;和位置计算单元,根据采集到的磁场强度信号计算磁体在直线方向上的位置。因此,本发明无需对所有磁感应传感器的数据进行采集、处理和计算,降低了位移测量装置的功耗、提高了数据更新频率和检测效率。 | ||
搜索关键词: | 位移 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精量电子(深圳)有限公司;泰连传感器德国有限公司,未经精量电子(深圳)有限公司;泰连传感器德国有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110966418.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种集成冷藏功能的油烟机及控制方法
- 下一篇:磁感应位移检测系统