[发明专利]一种用于集成电路的半导体芯片测试方法及其测试装置有效
| 申请号： | 202111046392.1 | 申请日： | 2021-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN113492114B | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 刘威威 | 申请（专利权）人： | 苏州贝克微电子有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 史翠 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于集成电路的半导体芯片测试方法、测试装置、测试系统、测试设备及计算机可读存储介质，通过在测试前为半导体芯片分配唯一标识，从而在利用分选机将半导体芯片送入测试位进行测试的过程中，可以将测试数据与唯一标识进行关联存储；按预设分类规则分析测试数据得到半导体芯片的分类结果，在完成测试后，根据唯一标识和分类结果生成打标序列号，控制打标机将打标序列号打印在半导体芯片上，从而建立了半导体芯片的唯一标识、测试数据、分类结果与打标序列号的关联，不仅实现了整个测试过程的自动化，还可以关联存储测试数据以便后期追踪，还可以按分类需要根据打标序列号对半导体芯片进行分类。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 集成电路 半导体 芯片 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
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