[发明专利]电磁场近场测试方法、系统、可读存储介质及计算机设备有效

专利信息
申请号: 202111161940.5 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113917239B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 苏栋才;东君伟 申请(专利权)人: 中山香山微波科技有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司 44340 代理人: 温青玲
地址: 528437 广东省中山市火*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请适用于测试领域,提供了一种电磁场近场测试方法、系统、计算机可读存储介质及计算机设备。所述方法包括:在选择的坐标系下,控制运动装置使DUT和探头发生随机相对运动,产生多个随机测量点,并确定探头的一个或多个姿态,得出分别与探头的姿态对应的电磁场系数;获取所有探头采集到的电磁场信号测量值,得到测量值集合;根据测量值集合和分别与探头的姿态对应的电磁场系数,根据电磁学中的洛伦茨互易定律,并通过凸优化算法求解出DUT的电磁场系数;根据所述DUT的电磁场系数得到DUT的远场方向图或者DUT以外任意一点的电场和/或磁场。本申请需要的测量点比传统算法少得多,极大提高了测试效率,且对DUT电磁场的计算范围要比传统方法的要广。
搜索关键词: 电磁场 近场 测试 方法 系统 可读 存储 介质 计算机 设备
【主权项】:
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