[发明专利]X射线分析装置

摘要

本发明在X射线装置中，防止衍射X射线强度的降低并防止背景噪声的增加。一种X射线分析装置，具备测角仪(104)、设置在测角仪(104)的旋转中心(OG)上的试料台(2)、向固定在试料台(2)上的试料(110)照射X射线的X射线源(F)、检测由所述试料衍射的X射线的X射线检测器(107)以及形成在一对遮蔽部件(3)之间且通过遮蔽部件(3)的开闭而使通过所述X射线的狭缝宽度可变的开闭机构，所述开闭机构具有非对称控制部件(4)，其相对于连接X射线源(F)或X射线检测器(107)和旋转中心(OG)的直线，由一侧的遮蔽部件(3)和另一侧的遮蔽部件(3)与测角仪(104)的旋转角度θ对应地不对称地控制遮蔽部件(3)的开口宽度。