[发明专利]存储器的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202210270572.6 | 申请日： | 2022-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN116805504A | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 楚西坤;刘东;第五天昊 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 郭凤杰 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及一种存储器的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质。其中，存储器的缺陷检测方法包括：向目标存储单元阵列写入第一数据；在目标存储单元的位线电压处于被上拉或者下拉后的目标电压时，打开目标存储单元的字线，以向目标存储单元内回存与第一数据相反的数据，目标存储单元的回存时间为预设时间；关闭目标存储单元的字线；读取目标存储单元内存储的第二数据；判断第一数据和第二数据是否一致；当第一数据和第二数据一致时，判定目标存储单元具有在预设时间内导致回存失效的缺陷。本申请实施例可以有效缺陷检测能力。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 缺陷 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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