[发明专利]电子测试系统及电子测试方法在审
| 申请号： | 202210409063.7 | 申请日： | 2022-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN116844622A | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 詹佩函 | 申请（专利权）人： | 南亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 康艳青;王琳 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种电子测试系统，包含读写器、存储器及处理器。读写器用以读写复数信息。处理器用以由存储器取得复数个指令以执行以下步骤：于第一读写阶段，借由处理器产生并写入启动信号；于第一读写阶段，于第一位置借由读写器读取N个展频信号，其中N为大于0的正整数，其中N个展频信号落于特定频率范围；于第一读写阶段，借由处理器产生并写入预充信号；于第二读写阶段，借由处理器产生并写入启动信号；于第二读写阶段，于第二位置借由读写器读取N个展频信号；以及于第二读写阶段，借由处理器产生并写入预充信号。本发明实施例所示的电子测试系统及电子测试方法得以于复数个位置读取复数个展频信号以确保所读取信息正确，避免电磁干扰所造成的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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