[发明专利]针对高深宽比曲面构件面形测量的测量系统及方法有效
| 申请号： | 202210449402.4 | 申请日： | 2022-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN114910014B | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 陈远流;曹中浩;陈甫文;居冰峰;杜凯;张海军;李国 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 杭州易中元兆专利代理有限公司 33341 | 代理人： | 张安心 |
| 地址： | 310000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开一种针对高深宽比曲面构件面形测量的测量系统，其包括双探头测量机构、探头驱动机构、构件移动机构，双探头测量机构包括激光干涉光针及扫描触针，两者探头间隔设置，并依次对曲面构件进行扫描；探头驱动机构驱动双探头测量机构对曲面构件进行随形扫描；构件移动机构带动曲面构件作回转运动。本发明还公开了基于上述测量系统的测量方法，其综合激光干涉光针在曲面轮廓、无损检测方面的优势以及高长径比扫描触针对大曲率、小间隙结构的检测优势，并优化其测量方法，实现了复杂高深宽比曲面构件跨尺度特征的全表面检测。 | ||
| 搜索关键词： | 针对 高深 曲面 构件 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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