[发明专利]一种指数寿命型电子零部件寿命试验方案确定系统及方法有效
| 申请号： | 202210498966.7 | 申请日： | 2022-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN114970120B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 朱拥勇;张恺;周奇郑;李华 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军海军工程大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01R31/00;G06F119/04 |
| 代理公司： | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人： | 张晓博 |
| 地址： | 430033 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于电子零部件检测技术领域，公开了一种指数寿命型电子零部件寿命试验方案确定系统及方法，包括：参数采集模块分别获取生产方与使用方关注的电子零部件的寿命参数；方案输出模块基于获取的生产方与使用方关注的电子零部件的寿命参数输出双方风险小于阈值的定时试验的方案；方案选择模块从输出的多个双方风险小于阈值的试验方案中选择其中一个作为最终试验方案。本发明得出的方案用于产品的抽样检验时，既能减小合格产品被拒收的概率，避免了合格产品因不能投入使用造成的浪费，也能减小不合格产品被接收、投入使用的概率，降低了产品在使用过程中因质量不合格而故障频发导致安全事故等问题的可能性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 指数 寿命 电子 零部件 试验 方案 确定 系统 方法 | ||
【主权项】：
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