[发明专利]一种面向光纤白光干涉的干涉条纹优化方法有效
| 申请号： | 202210553365.1 | 申请日： | 2022-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN115046470B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 陈章位;徐振宇;祖洪飞;丁斌;何飞飞 | 申请（专利权）人： | 浙江大学;南通市计量检定测试所 |
| 主分类号： | G01B9/02015 | 分类号： | G01B9/02015;G01B9/02001;G01B11/24 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 邱启旺 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种面向光纤白光干涉的干涉条纹优化方法，以结合光电探测器和纳米位移台的迈克尔逊干涉仪为主体，利用各硬件之间的组合关系构建了一套完整的光纤白光干涉检测系统，并提供了基于该系统的干涉条纹优化方法，包括采用组合光源和使用幂指数运算两种思路，以对比度作为评价干涉条纹优化程度的目标函数，从白光干涉原理和理论推导出发，提高干涉零级条纹和次级条纹的对比度，并缩短等效相干长度，提高零级条纹的定位精度，从而提高系统的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 光纤 白光 干涉 条纹 优化 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学;南通市计量检定测试所，未经浙江大学;南通市计量检定测试所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210553365.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种面向光纤白光干涉的干涉条纹包络提取方法
- 下一篇：显示屏及显示装置
