[发明专利]微机电系统轴的耦合效应的检测、校正和补偿在审
申请号: | 202210975152.8 | 申请日: | 2022-08-15 |
公开(公告)号: | CN115704885A | 公开(公告)日: | 2023-02-17 |
发明(设计)人: | N·德鲁梅尔;S·G·阿尔伯特;F·M·达勒;P·格雷纳 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G01S7/4861;G01S7/4865;G01S17/08;G01B7/00;G01M13/00;G02B26/08;H03L7/08 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李兴斌 |
地址: | 德国诺伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开的各实施例总体上涉及微机电系统轴的耦合效应的检测、校正和补偿。一种振荡器控制系统包括振荡器结构,该振荡器结构被配置为根据利萨茹图案围绕第一旋转轴线和第二旋转轴线振荡,其中围绕第二旋转轴线的振荡将交叉耦合误差施加到围绕第一旋转轴线的振荡上,并且其中交叉耦合误差根据利萨茹图案内的利萨茹位置而改变;以及包括锁相环(PLL)的驱动器电路,该PLL被配置为调节驱动信号,该驱动信号驱动围绕第一旋转轴线的振荡。PLL被配置为基于围绕第一旋转轴线的振荡的相位误差生成PLL信号。PLL包括补偿电路,该补偿电路被配置为接收PLL信号和利萨茹图案内的利萨茹位置,将补偿值应用于PLL信号以生成用于基于利萨茹位置生成驱动信号的已补偿PLL信号。 | ||
搜索关键词: | 微机 系统 耦合 效应 检测 校正 补偿 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技股份有限公司,未经英飞凌科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210975152.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:控制废气处理装置的操作的方法
- 下一篇:用于为车辆预测本车道的方法