[发明专利]可准确获取被检物品尺寸信息的太赫兹成像系统及其方法在审

专利信息
申请号: 202210999211.5 申请日: 2022-08-19
公开(公告)号: CN115373039A 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 袁毅;臧元章;侯丽伟;周德亮;谢巍;潘鸣 申请(专利权)人: 上海亨临光电科技有限公司;江苏亨通太赫兹技术有限公司
主分类号: G01V8/14 分类号: G01V8/14;G01B11/00
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司 32293 代理人: 陶纯佳
地址: 201306 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种可准确获取被检物品尺寸信息的太赫兹成像系统,其能解决现有系统存在的安检物品的甄别准确率低的问题;探测器设置于太赫兹光学装置的像方一侧,探测器与图像识别处理装置电控连接,在太赫兹光学装置与探测器之间、且在太赫兹光学装置的像方焦点处设置有一孔径光阑;获取物品尺寸时,先预设太赫兹光学装置的设计放大率β,太赫兹光学装置连续获取移动中的被检物品本身辐射出的太赫兹辐射信号、并将获取的太赫兹辐射信号经由孔径光阑聚集到位于像平面位置处的探测器上进行物品成像;图像识别处理装置识别测量物品的成像尺寸信息y’,再根据预设的太赫兹光学装置的设计放大率β,计算得到被检物品尺寸信息y=y’/β。
搜索关键词: 准确 获取 物品 尺寸 信息 赫兹 成像 系统 及其 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海亨临光电科技有限公司;江苏亨通太赫兹技术有限公司,未经上海亨临光电科技有限公司;江苏亨通太赫兹技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210999211.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top