[发明专利]光检测装置和电子设备在审
申请号: | 202211024796.5 | 申请日: | 2018-02-19 |
公开(公告)号: | CN115942133A | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 丹羽笃亲;山下知宪;马上崇;植野洋介 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | H04N25/534 | 分类号: | H04N25/534;H04N25/772;H04N25/75;H03K5/24;H03M1/12;H03M1/34;H03M1/56 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 卫李贤;姚鹏 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种光检测装置和电子设备。其中,光检测装置可包括:像素,其被配置用于生成像素信号;以及比较器,其包括:第一电容器,其被配置用于接收像素信号;第二电容器,其被配置用于接收参考信号;第一节点,其连接到第一电容器和第二电容器;第一晶体管,其具有连接到第一节点的栅极;以及第二晶体管,其位于第一晶体管和提供有第一电压的第一线之间,其中,第一晶体管位于第二晶体管和提供有第二电压的第二线之间,第二电压与第一电压不同,其中,第一晶体管和第二晶体管的极性相反,其中,第二晶体管的栅极被配置为用于接收偏置电压,并且其中,第一输出信号被配置为从第一晶体管和第二晶体管之间的第二节点之间输出。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
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- 丹羽笃亲;山下知宪;马上崇;植野洋介 - 索尼半导体解决方案公司
- 2018-02-19 - 2023-04-07 - H04N25/534
- 本发明涉及一种光检测装置和电子设备。其中,光检测装置可包括:像素,其被配置用于生成像素信号;以及比较器,其包括:第一电容器,其被配置用于接收像素信号;第二电容器,其被配置用于接收参考信号;第一节点,其连接到第一电容器和第二电容器;第一晶体管,其具有连接到第一节点的栅极;以及第二晶体管,其位于第一晶体管和提供有第一电压的第一线之间,其中,第一晶体管位于第二晶体管和提供有第二电压的第二线之间,第二电压与第一电压不同,其中,第一晶体管和第二晶体管的极性相反,其中,第二晶体管的栅极被配置为用于接收偏置电压,并且其中,第一输出信号被配置为从第一晶体管和第二晶体管之间的第二节点之间输出。
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