[发明专利]一种像元响应非均匀性校正方法、系统、电子设备及介质有效
| 申请号： | 202211141242.3 | 申请日： | 2022-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN115567651B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 江军;姚志刚;赵增亮;安豪;宋堃 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军61540部队 |
| 主分类号： | H04N5/205 | 分类号： | H04N5/205;G06T3/40;G06T5/00;G06T5/40;G06T7/73 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 万慧华 |
| 地址： | 100029*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种像元响应非均匀性校正方法、系统、电子设备及介质，涉及像元响应校正技术领域，方法包括：获取星载微光成像仪输出的微光观测图像数据；所述微光观测图像数据包括经纬度和辐射值；对所述微光观测图像数据进行预处理；对经过预处理的所述微光观测图像数据，依次进行相对偏差计算和直方图处理，以确定观测图像亮线数据；对所述观测图像亮线数据，依次进行双线性插值处理和映射校正处理，以得到校正后的微光观测图像数据。本发明实现了对星载微光成像仪CCD响应非均匀的动态检测与校正，提升了微光图像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 响应 均匀 校正 方法 系统 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
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