[发明专利]荧光检测用消偏振陷波滤光片在审

专利信息
申请号: 202211322514.X 申请日: 2022-10-27
公开(公告)号: CN115903116A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 班超;高鹏;阴晓俊;赵帅锋;任少鹏;王瑞生;王忠连;李壮 申请(专利权)人: 沈阳仪表科学研究院有限公司
主分类号: G02B5/28 分类号: G02B5/28;G01N21/01;G01N21/64
代理公司: 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 代理人: 郭元艺
地址: 110043 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明属光学滤光片领域,尤其涉及一种荧光检测用消偏振陷波滤光片,包括基片上镀制的基础膜系,其膜系结构为:S|(2HaLbH2LbHaL)^m|A;其中:S为玻璃基底;A为空气;H为高折射率材料;L为低折射率材料,通过更换材料改变比值调整陷波带宽;a、b为消偏振系数,通过调整消偏振系数调整消偏振程度;m为膜系的总体循环个数,决定膜系的陡度和截止深度。本发明消偏振陷波滤光片在45°入射时具备可调节带宽的反射区,具有透射范围宽、陡度高及消偏振特性。
搜索关键词: 荧光 检测 偏振 陷波 滤光
【主权项】:
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