[发明专利]安全检测方法、芯片及电子设备在审
| 申请号： | 202211536998.8 | 申请日： | 2022-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN115906084A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 吴仕英 | 申请（专利权）人： | 广州众诺电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/56 | 分类号： | G06F21/56;G06F21/71 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 邓超 |
| 地址： | 510000 广东省广州市高新技术产业*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种安全检测方法、芯片及电子设备，涉及硬件信息安全技术领域。该方法用于对芯片进行检测，芯片的顶层具有面积不同的多个金属区域，各金属区域互不导通；该方法包括：获取各所述金属区域的待检测参数，判断各所述金属区域的待检测参数是否符合预设函数，若符合，则确定所述芯片未遭到入侵式攻击，若不符合，则确定所述芯片遭到入侵式攻击。本发明实施例解决了现有芯片有源物理层保护方案容易被入侵者探测更底层的信号线，芯片安全性不高的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 安全 检测 方法 芯片 电子设备 | ||
【主权项】：
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