[发明专利]电子探针样品表面导电性处理方法在审
| 申请号： | 202211597976.2 | 申请日： | 2022-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN115616016A | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 赵明;王俊萍;武慧敏;康东艳 | 申请（专利权）人： | 矿冶科技集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202;G01N23/225 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 王闯 |
| 地址： | 100160 北京市丰台区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种电子探针样品表面导电性处理方法，涉及材料分析领域。电子探针样品表面导电性处理方法，包括：将导电性良好的超薄二维材料设置在不导电样品的表面，干燥、热处理得到目标样品。本申请提供的电子探针样品表面导电性处理方法，采用石墨烯膜进行导电化处理的样品中目标元素信号强度明显高于蒸镀碳膜处理的信号强度，因此，采用石墨烯对试样表面进行导电化处理能够有效提高检出信号的峰背比，进而提高定量分析的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 电子探针 样品 表面 导电性 处理 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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