[发明专利]TCAM自检方法、装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211708874.3 | 申请日： | 2022-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN116403632A | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 李文军 | 申请（专利权）人： | 北京物芯科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/52 | 分类号： | G11C29/52;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京华圣典睿知识产权代理有限公司 11510 | 代理人： | 刘文静 |
| 地址： | 100000 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种TCAM自检方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：接收当前时刻的扫描请求；所述扫描请求包括请求操作、请求地址和选择存储标志位；根据所述扫描请求的请求操作向所述TCAM发送读操作指令，得到所述请求地址对应的TCAM存储表项；根据所述扫描请求的请求操作和选择存储标志位向对应的校验存储表项发送读操作指令，得到所述请求地址对应的校验存储表项；基于所述TCAM存储表项和所述校验存储表项按照校验算法进行校验。采用本方法能够，可以在不影响TCAM正常功能和性能的基础上进行TCAM存储数据检测，有效保证了芯片的可靠性和健壮性。 | ||
| 搜索关键词： | tcam 自检 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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