[实用新型]一种封装芯片高性能高温老化柜有效
申请号: | 202221162766.6 | 申请日: | 2022-05-07 |
公开(公告)号: | CN217766492U | 公开(公告)日: | 2022-11-08 |
发明(设计)人: | 薛银飞 | 申请(专利权)人: | 天津市菲莱科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R31/28 |
代理公司: | 南京源点知识产权代理有限公司 32545 | 代理人: | 潘云峰 |
地址: | 300450 天津市滨海新区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开一种封装芯片高性能高温老化柜,涉及封装芯片老化处理的技术领域,包括:老化柜柜体,老化柜柜体的一侧设置有开口;柜门,柜门安装于开口处;安装板,安装板设置于柜门的底部;电机,安装在老化柜柜体上方;驱动轴,安装于电机的输出端,且驱动轴伸入老化柜柜体内部;传动卡套,传动卡套安装于驱动轴的底端;转轴,转轴的底端与安装板活动连接;传动卡块,传动卡块安装于转轴的顶端,且传动卡块与传动卡套配合;多个物料盘,物料盘自上而下安装在转轴上;网状隔板,网状隔板沿其圆周方向安装于物料盘内;多个卡环,卡环的端部与物料盘的卡槽配合,本实用新型解决了现有的老化装置老化均匀性不够的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 封装 芯片 性能 高温 老化 | ||
【主权项】:
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