[发明专利]一种基于红外热成像的继电器触点性能测试系统及方法在审
申请号: | 202310030599.2 | 申请日: | 2023-01-10 |
公开(公告)号: | CN115932574A | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 沈功田;王尊祥;刘然;赵召;徐支茂;赵伟 | 申请(专利权)人: | 中国特种设备检测研究院 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327;G01J5/00;G01J5/48 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 韩雪梅 |
地址: | 100026 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种基于红外热成像的继电器触点性能测试系统及方法,涉及继电器触点性能测试领域,该测试系统包括采集装置、测试装置和时间继电器;测试装置,分别与被测试继电器和时间继电器连接,用于通过时间继电器控制被测试的继电器的触点的吸合和释放;采集装置,与所述测试装置连接,用于采集被测试的继电器的触点的温度,还用于采集被测试的继电器的触点的吸合次数和工作时长。本发明解决了目前中间继电器产品性能测试仅针对电压、电流、时间等单项参数但无法测试触点性能的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 红外 成像 继电器 触点 性能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
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