[发明专利]一种测量系统及其测量方法在审
| 申请号： | 202310285572.8 | 申请日： | 2023-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN116482702A | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 宋浩;陆丹;郭菲;赵玲娟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01S17/58 | 分类号： | G01S17/58 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 张正秋 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量系统及其测量方法，涉及光电子测量技术领域，用以避免因激光器的线宽影响测量精度的问题，从而提高了测量精度。该测量系统包括：锁模激光器单元、传输发射单元和探测处理单元；锁模激光器单元被配置为：产生第一激光并向传输发射单元传输第二激光；传输发射单元被配置为：接收并向待测运动目标发射第二激光，在传输第二激光时产生参考光，接收待测运动目标接收第二激光后产生的信号光，将参考光和信号光合波后传输至探测处理单元；探测处理单元被配置为：接收并对参考光和信号光进行处理，得到至少一个多普勒频移差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 系统 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
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