[发明专利]一种显示模组高低温老化测试方法及设备在审
| 申请号： | 202310330504.9 | 申请日： | 2023-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN116338358A | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 王鑫鑫;王凤德;粘为进;马银芳;倪寿杰 | 申请（专利权）人： | 无锡美科微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01N17/00 |
| 代理公司： | 北京思格颂知识产权代理有限公司 11635 | 代理人： | 吕露 |
| 地址： | 214101 江苏省无锡市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提出一种显示模组高低温老化测试方法及设备，该方法包括：将多个显示模组一一放入托盘正面的多个承载窗口内；多个显示模组与多个承载窗口一一对应；多个承载窗口呈阵列排布；托盘反面开设有与承载窗口的底部贯通的通气孔；通气孔在托盘反面上的正投影至少部分延伸至承载窗口在托盘反面上的正投影外；托盘反面还设有多个垫脚；将带有显示模组的托盘置于托架的承载板上，垫脚使托盘与承载板之间形成空隙；将带有托盘的托架放入高低温老化测试装置中，在预设测试条件下，对显示模组进行高低温老化测试。将待测试显示模组置于托盘的承载窗口内，遇到高低温老化测试装置中气流较大时，测试显示模组放置稳固，避免出现测试产品晃动掉落的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 模组 低温 老化 测试 方法 设备 | ||
【主权项】：
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