[发明专利]瑕疵检测方法、电子设备以及存储介质在审
| 申请号： | 202310423290.X | 申请日： | 2023-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN116739977A | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 辛琪;金宇林 | 申请（专利权）人： | 北京旷视科技有限公司;南京旷云科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人： | 徐丁峰;戴亚南 |
| 地址： | 100096 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种瑕疵检测方法、电子设备以及存储介质。该方法用于检测人脸上的目标瑕疵，包括：获取待处理图像，待处理图像包含待测皮肤区域；基于待处理图像生成对应的灰度图像；对灰度图像进行高斯差分处理，获得灰度图像上的各像素各自对应的高斯差分响应值；根据灰度图像上的各像素各自对应的高斯差分响应值以及目标瑕疵的分布特征，对目标区域内的目标瑕疵进行检测，目标区域包括至少部分待测皮肤区域。上述方法具有较高的稳定性和泛化性。 | ||
| 搜索关键词： | 瑕疵 检测 方法 电子设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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