[发明专利]光模块固件测试系统及方法在审
申请号: | 202310490233.3 | 申请日: | 2023-05-04 |
公开(公告)号: | CN116506007A | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 郑定瑞;李林科;吴天书;杨现文;张健 | 申请(专利权)人: | 武汉联特科技股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/073 | 分类号: | H04B10/073 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 吴静 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及光模块测试技术领域,公开了一种光模块固件测试系统及方法。该系统包括测试板、示波器、光分路器以及上位机;测试板与示波器均连接上位机,测试板上搭载待测光模块,待测光模块与测试板通信连接,测试板还通过数据信号管脚连接示波器,待测光模块的发射端通过光分路器连接示波器。本发明通过上位机下发待测光模块固件测试的测试指令至测试板,测试板响应测试指令并运行光模块固件测试脚本,以实现待测光模块的固件测试;上位机还读取示波器所显示的固件测试波形并进行测量和记录,以生成待测光模块的测试报表,实现光模块自动化测试,更好地实现测试全覆盖,从而提高了光模块固件测试效率。 | ||
搜索关键词: | 模块 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉联特科技股份有限公司,未经武汉联特科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310490233.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。